手持式XRF合金分析儀X-MET8000將日立HITACHI的高性能X光管和大面積硅漂移探測器（SDD）地耦合在一起，其速度和性能幾乎可滿足市場上所有的金屬分析應用需求

手持式 XRF合金分析儀X-MET8000將日立HITACHI的高性能 X 光管和大面積硅漂移探測器（SDD）地耦合在一起，其速度和性能幾乎可滿足市場上所有的金屬分析應用需求。

X-MET8000 手持式合金分析儀是檢驗及制造行業(yè)中，進行廢舊金屬回收、貴金屬及珠寶分析、材料可靠性鑒定（PMI）的理想工具。

X-MET8000系列有三種型號，可滿足不同的分析需求和資金預算需求

簡單的“對準即測”操作，使用方便, 測試時間靈活選擇

直觀的大圖標式用戶界面：操作員幾乎不需任何培訓

大面積4.3英寸彩色觸摸屏，即便在陽光直射下也能清晰地看到檢驗結果。操作簡單方便，戴上手套也不受影響

符合IP54 等級（相當于 NEMA 3），能夠適應的環(huán)境

加強型防護窗口（用于Expert 及 Optimum）可防止X射線管和探頭在測試小部件和尖銳物體時受損

可快速更換防護窗口：無需任何工具即可快速更換已損壞或玷污的窗口

可按客戶要求定制檢驗結果模式，以便于快速作出判斷：即顯示您所需重要信息，例如合號、元素成分、合格/不合格通知，以及元素的顯示順序

時尚精巧的設計

可選配相機，有助于準確定位測量

大量可自定義的牌號庫