測試系統(tǒng)Inframet是能夠提供用于測試所有類型的光電成像系統(tǒng)和激光系統(tǒng)（紅外熱成像儀

測試系統(tǒng)

Inframet是能夠提供用于測試所有類型的光電成像系統(tǒng)和激光系統(tǒng)（紅外熱成像儀，夜視設(shè)備，VIS-NIR相機(jī)（CCD / CMOS / ICCD / EBAPS）相機(jī)） ，SWIR相機(jī)，UV相機(jī)，激光測距儀，激光指示器，激光照明器，激光指示器，多探測器監(jiān)控系統(tǒng)，融合圖像相機(jī)）和此類系統(tǒng)的模塊（圖像增強(qiáng)器，IR FPA傳感器，CCD / CMOS / EBAPS探測器， 條紋管，離散紅外探測器）。 請查看專門針對不同類型的光電成像系統(tǒng)和模塊的章節(jié)中的詳細(xì)信息。 我們的研發(fā)及制造能力使Inframet能夠提供針對潛在客戶的特定需求而化的各種測試系統(tǒng)。

紅外熱成像儀	VIS-NIR相機(jī)	夜視設(shè)備	SWIR相機(jī)
激光系統(tǒng)	軸對準(zhǔn)	多探測器系統(tǒng)	融合圖像相機(jī)
紫外相機(jī)	太赫茲相機(jī)	圖像增強(qiáng)器	條紋管
VIS-SWIR FPA探測器	IR FPA傳感器	離散探測器	光學(xué)模塊

根據(jù)提供的測試設(shè)備的復(fù)雜程度，Inframet建議一般可分為三組：

• 單一光電設(shè)備的測試系統(tǒng)

• 多套光電設(shè)備的測試系統(tǒng)

• 光電設(shè)備的國家計量測試系統(tǒng)

單一光電設(shè)備的測試系統(tǒng)（例如用于測試紅外熱成像儀的DT系統(tǒng)）被認(rèn)為是的情況。 我們絕大多數(shù)的訂單都屬于這個類型。 但是，我們所有的測試系統(tǒng)都可以提供一系列不同技術(shù)復(fù)雜程度的版本。 因此，在該組中可以找到用于測試短焦距紅外熱像儀的相對低成本的測試系統(tǒng)以及用于測試長焦空間應(yīng)用紅外熱像儀的昂貴的復(fù)雜的測試系統(tǒng)。

多套光電設(shè)備的測試系統(tǒng)通常適用于光電系統(tǒng)的大型生產(chǎn)商或者維修保養(yǎng)車間，滿足其對于一系列的光電系統(tǒng)測試要求而只選用單一的測試設(shè)備用于光電系統(tǒng)的測試及計量。

光電設(shè)備的國家計量測試系統(tǒng)是Inframet可以執(zhí)行的別的訂單。在這種情況下，Inframet提供的測試所有光電設(shè)備的測試系統(tǒng)需要具備校準(zhǔn)和如何使用現(xiàn)有的本地計量中心進(jìn)行再校準(zhǔn)校的能力。通過這種方式，客戶所在國家實現(xiàn)了測試光電設(shè)備計量級別的能力，而不依賴于外部的機(jī)構(gòu)。

聯(lián)系指南

                      因產(chǎn)品特殊性，請您直接致電或者郵件聯(lián)系詢問您的測量需求，感謝您的關(guān)注與支持