• JSM-IT510 InTouchScope™ 掃描電子顯微鏡
• 掃描電子顯微鏡 (SEM) 不僅是開展科研工作所的工具，
• 對于需要品控的制造工廠也是的。 在這些場景中，
• 用戶需要重復(fù)執(zhí)行相同的觀察操作，因此快速完成這些操作有助于提高工作效率。
• JSM-IT510 新增的“簡單 SEM”功能，用戶可將 SEM 觀察所需的“手動(dòng)重復(fù)操作交給它”，
• 從而更有效、更輕松地完成 SEM 觀察。

• NEW 簡單 SEM

  只需選擇目標(biāo)視野

  “簡單 SEM”支持日常工作

2. 準(zhǔn)備抽真空觀察

*1 樣品臺(tái)導(dǎo)航系統(tǒng)（SNS）是選配件

*2 大區(qū)域樣品臺(tái)導(dǎo)航系統(tǒng)（SNSLS）是選配件

*3 樣品室相機(jī)（CS）是選配件

3. 自動(dòng)開始觀察

真空完成后自動(dòng)成像

2. 簡單分析

至多點(diǎn)擊3次即可開始EDS分析

多種高選項(xiàng)

1. NEW 低真空混合二次電子探測器（LHSED）*

該新型探測器可以收集電子和光子信號，并提供具有高信噪比和增強(qiáng)形貌信息的圖像

2. NEW 實(shí)時(shí)3D*

新多向分割BE探測器*獲得的圖像可以顯示為實(shí)時(shí)3D圖像。

即使樣品具有細(xì)微的表面起伏，實(shí)時(shí)3D也可以直觀的將其清晰的表現(xiàn)出來，并獲取其深度信息。

3. 蒙太奇

蒙太奇功能可以自動(dòng)獲取多個(gè)小視野的圖像并將這些圖像拼接成一張更大視野的圖像。

4. 顯示信號深度

此功能實(shí)時(shí)顯示被測樣品的分析深度（近似數(shù)值），對元素分析非常有用。