礦石分析儀
EDX 5500B X射線(xiàn)熒光分析儀是利用XRF技術(shù)解決復(fù)雜成份中元素的快速、準(zhǔn)確分析。該技術(shù)的主要特征為：利用低能X光激發(fā)待測(cè)元素，對(duì)Si、S、AI、Na、Mg等輕元素有良好的激發(fā)效果，并且測(cè)試時(shí)間短，大大提高了檢測(cè)效率和工作效率；采用SDD硅漂移探測(cè)器，具有良好的能量線(xiàn)性和能量分辨率，及良好的能譜特性，較高的峰背比； 采用自動(dòng)穩(wěn)譜裝置，保證了儀器工作的一致性；利用解譜技術(shù)使譜峰分解，對(duì)Si、S、AI等輕元素的測(cè)試具有和的分析精度；采用相似自動(dòng)分類(lèi)技術(shù)使分類(lèi)更準(zhǔn)確，有效地克服基效應(yīng)對(duì)測(cè)量帶來(lái)的影響；采用多參數(shù)的線(xiàn)性回歸方法，使元素間的吸收、增強(qiáng)效應(yīng)得到明顯的消除。
臺(tái)式X射線(xiàn)熒光分析儀 能量色散EDX光譜儀的型號(hào)：EDX 5500B
X光管：Rh靶材；50W；
高壓：50KV；1mA
探測(cè)器：SDD（硅飄移探測(cè)器）
配置真空裝置，包括真空泵
測(cè)試元素：S、P、Mn、Fe、Cr、Ni、Si、Al、Ca 等等
X射線(xiàn)熒光分析儀的基本原理：
當(dāng)能量高于原子內(nèi)層電子結(jié)合能的高能X射線(xiàn)與原子發(fā)生碰撞時(shí)，驅(qū)逐一個(gè)內(nèi)層電子而出現(xiàn)一個(gè)空穴，使整個(gè)原子體系處于不穩(wěn)定的激發(fā)態(tài)，激發(fā)態(tài)原子壽命約為 10-12-10-14s，然后自發(fā)地由能量高的狀態(tài)躍遷到能量低的狀態(tài)。這個(gè)過(guò)程稱(chēng)為馳豫過(guò)程。馳豫過(guò)程既可以是非輻射躍遷，也可以是輻射躍遷。當(dāng)較外層的電子躍遷到空穴時(shí)，所釋放的能量隨即在原子內(nèi)部被吸收而逐出較外層的另一個(gè)次級(jí)光電子，此稱(chēng)為俄歇效應(yīng)，亦稱(chēng)次級(jí)光電效應(yīng)或效應(yīng)，所逐出的次級(jí)光電子稱(chēng)為俄歇電子。當(dāng)較外層的電子躍入內(nèi)層空穴所釋放的能量不在原子內(nèi)被吸收，而是以輻射形式放出，便產(chǎn)生X 射線(xiàn)熒光，其能量等于兩能級(jí)之間的能量差。它的能量是特征的，與入射輻射的能量無(wú)關(guān)。因此，X射線(xiàn)熒光的能量或波長(zhǎng)是特征性的，與元素有一一對(duì)應(yīng)的關(guān)系。莫斯萊(H.G.Moseley) 發(fā)現(xiàn)，熒光X射線(xiàn)的波長(zhǎng)λ與元素的原子序數(shù)Z有關(guān)，其數(shù)學(xué)意義表達(dá)如下：
λ=K(Z-s)-2
這就是莫斯萊定律，式中K和S是常數(shù)，因此,只要測(cè)出熒光X射線(xiàn)的波長(zhǎng),就可以知道元素的種類(lèi),這就是熒光X射線(xiàn)定性分析的基礎(chǔ)。此外,熒光X射線(xiàn)的強(qiáng)度與相應(yīng)元素的含量有一定的關(guān)系，據(jù)此，可以進(jìn)行元素定性分析和定量分析
產(chǎn)品技術(shù)指標(biāo)：
測(cè)量元素范圍：從鈉（Na）至鈾（U）
元素含量分析范圍：1ppm—99.99%
同時(shí)分析元素：24種元素同時(shí)分析
測(cè)量鍍層：鍍層厚度測(cè)量至0.005微米，可分析5層以上的鍍層
分析精度：0.05%
測(cè)量對(duì)象狀態(tài)：粉末、固體、液體
測(cè)量時(shí)間：60s—200s
能量分辨率為：（150±5）eV
管壓：5KV—50KV
管流：50uA—1000uA
標(biāo)準(zhǔn)配置
單樣品真空腔體
計(jì)算機(jī)、打印機(jī)
SDD硅漂移探測(cè)器
信噪比增強(qiáng)器
光路增強(qiáng)系統(tǒng)
內(nèi)置高清晰攝像頭
可自動(dòng)切換型準(zhǔn)直器和濾光片
精準(zhǔn)的升降平臺(tái)
加強(qiáng)的金屬元素感度分析器
真空泵（可選）
壓片機(jī)（可選）
工作環(huán)境：
1、設(shè)備合理的工作環(huán)境，首先是不要在有電機(jī)、振動(dòng)、電磁、高壓或有高頻率燒電焊器的地方安裝設(shè)備，這樣會(huì)干擾我們?cè)O(shè)備或造成設(shè)備不能正常工作。
2、溫度：恒溫在250C左右，范圍超過(guò)10C以上影響大，所以要在溫度適合的地方做測(cè)試。建議采用空調(diào)房。
3、濕度：要在濕度均衡的地方做測(cè)試。不能超過(guò)90%的濕度。
4、灰塵容易腐蝕電路板，所以設(shè)備要保持干凈，工作室也同樣要保持干凈。
5、雷電天氣應(yīng)關(guān)掉電源，因?yàn)殚W電會(huì)直接影響設(shè)備的正常運(yùn)作。
應(yīng)用領(lǐng)域：
金、鉑金、銀等貴金屬的成分檢測(cè)?？蓮V泛應(yīng)用于珠寶首飾中輕元素的檢測(cè)。
RoHS檢測(cè)分析、鹵素檢測(cè)分析、玩具皮革等八大重金屬測(cè)試
地礦與合金（銅、不銹鋼等）成分分析
金屬鍍層的厚度測(cè)量、電鍍液和鍍層含量的測(cè)定
土壤中元素含量分析
水泥元素分析
固危廢中的P、S、Cl以及重金屬分析
油品中硫含量分析
各種有色金屬合金、冶煉品，礦渣，爐料的分析
非金屬氧化物、石灰石、鈦白粉等復(fù)雜材料的分析
