Z-scan測試系統(tǒng) _________________________________________________產(chǎn)品介紹Z-掃描系統(tǒng)是研究材料非線性光學(xué)特性的有效手段，具有測量速度快、靈敏度高(參見融石英和CS2實(shí)例)和易維護(hù)等優(yōu)點(diǎn)。該系統(tǒng)可用于測量分析高分子、有機(jī)材料、納米粒子和半導(dǎo)體等材料的光學(xué)非線性特性, 包括非線性吸收（飽和吸收和反飽和吸收）、非線性折射和克爾效應(yīng)等。 此外，針對不同尺度的復(fù)合納米粒子和微晶等材料，儀器的高靈敏性還適用于考察材料的形態(tài)、結(jié)構(gòu)和濃度對非線性光學(xué)特性的影響。