Paschen-Runge和Czerny-Turner相結合的“蝶形”光學結構； 中壓力氬氣凈化系統(tǒng)，提升長期穩(wěn)定性并減少維護；

波長范圍119-761nm，

可測量金屬材料中的O、N、H等氣體元素；

采用量子效率更高的CMOS；

全新設計的光源，精度更高，功耗更低。

新型OE720是一款突破性的新型OES金屬分析儀。其涵蓋了金屬元素的全部光譜，并具有同類產(chǎn)品中低的檢出限。

由于行業(yè)法規(guī)日益嚴格，供應鏈變得復雜以及更多地使用廢料作為基礎材料，因此鑄造廠和金屬制造商將雜質(zhì)和痕量元素控制在ppm范圍內(nèi)。在過去，OES對許多企業(yè)而言是遙不可及。日立分析儀器推出的新型OE720可改變這一現(xiàn)狀。

這款直讀光譜儀可用于分析所有主要合金元素，并識別金屬中含量低的雜質(zhì)、痕量元素和處理元素，如鋼中的氮。 OE720的測量速度快、可靠性高且運營成本低，可進行高性價比的日常分析和質(zhì)量控制，其性能可與更大、更貴的光譜儀媲美。

為什么選擇 OE720

1. 值得信賴的結果 在同類產(chǎn)品中控制雜質(zhì)和痕量元素的光學分辨 率。

2. L綜合成本低 負擔得起的購買和運行成本，提供更貴分析儀 器所具備的性能。

3. 保持運行不間斷 設計可靠，維護和標準化要求低。

4. 支持連續(xù)生產(chǎn) 分析速度快，啟動時間短，可快速反饋熔液質(zhì) 量。

只需一臺合理的OE720設備，就能提供快速的金屬質(zhì)量分析，滿足您所有的需求。