日本電子株式會社2010年7月推出了冷場發(fā)射雙球差校正原子分辨和分析型透射電鏡

日本電子株式會社2010年7月推出了冷場發(fā)射雙球差校正原子分辨和分析型透射電鏡。

傳統(tǒng)的冷場發(fā)射技術穩(wěn)定性差，亮度低，無法保證透射電鏡的使用需求。日本電子株式會社開發(fā)的冷場發(fā)射技術解決了這些問題，并把該技術加入到球差校正透射電鏡ARM200F序列里。使ARM200F在保證亞納米分辨率0.078nm的同時，能量分辨率提高到0.3eV，極大增強了原子級觀察和原子級分析能力。

在美國的臺搭載冷場發(fā)射電子槍的JEM-ARM200F將安裝在Florida State University’s Applied Superconductivity Center, housed in the National High Magnetic Field Laboratory. 其后美國的Brookheaven國家實驗室；歐洲各國；日本的東京大學、東北大學、名古屋大學、九州大學等；中國臺灣的清華大學也開始紛紛采購這一設備。

從2009年開始，中國先后購買了JEM-ARM200F進二十臺，針對不同研究領域選用了不同配置。2017年6月日本電子株式會社推出了款的NEO ARM,采用自動球差校正軟件、且低壓下的分辨能力，適用范圍進一步擴大，為材料科學研究提供了一個更全面分分析平臺。