高分辨率掃描透射電子顯微鏡成像

• HAADF-STEM圖像0.136nm，F(xiàn)FT圖像0.105nm（高分辨率鏡頭（*））
• HAADF-STEM圖像0.144nm（標(biāo)準(zhǔn)鏡頭）
• 明場掃描透射電子顯微鏡圖像0.204nm（w/o球差校正儀）

高速，高靈敏度能譜分析：探針電流×10倍

• 元素面分布更迅速及時
• 低濃度元素檢測

操作簡化

• 自動圖像對中功能

從樣品制備到觀察分析實現(xiàn)無縫連接

• 樣品桿與日立聚焦離子束系統(tǒng)兼容

配有各種選購件可執(zhí)行各種評估和分析操作

• 同時獲取和顯示SE&BF, SE&DF, BF&DF, DF/EDX面分布（*） 和DF/EELS面分布（*）圖像。
• 低劑量功能（*）（使樣品的損傷和污染程度降至）
• 高精度放大校準(zhǔn)和測量（*）
• 實時衍射單元（*）（同時觀察暗場-掃描透射電子顯微鏡圖像和衍射圖案）
• 采用三維微型柱旋轉(zhuǎn)樣品桿（360度旋轉(zhuǎn)）（*），具有自動傾斜圖像獲取功能。
• ELV-3000即時元素面分布系統(tǒng)（*）（同時獲取暗場-掃描透射電子顯微鏡圖像）

（*） 選購件