THz-TDS太赫茲時(shí)域光譜儀背景知識(shí)基于超快激光的THz脈沖產(chǎn)生與探測技術(shù)發(fā)展起來的太赫茲時(shí)域光譜儀（Terahertz time domain spectroscopy, THz-TDS）技術(shù)。

THz-TDS太赫茲時(shí)域光譜儀背景知識(shí)

基于超快激光的THz脈沖產(chǎn)生與探測技術(shù)發(fā)展起來的太赫茲時(shí)域光譜儀（Terahertz time domain spectroscopy, THz-TDS）技術(shù)，是本世紀(jì)80年代由AT&T貝爾實(shí)驗(yàn)室（AT&T Bell Laboratories）和IBM公司的T.J.Waston研究中心（IBM Thomas J. Watson Research Center）提出的。BATOP太赫茲時(shí)域光譜儀THz-TDS技術(shù)屬于電磁輻射位相相干探測技術(shù)，是通過對THz脈沖不同時(shí)刻的電場強(qiáng)度進(jìn)行位相相關(guān)的取樣測量，獲得THz脈沖電場的時(shí)域波形。再對THz時(shí)域波形進(jìn)行傅立葉變換，獲得THz脈沖電場頻譜和位相信息。因此，太赫茲時(shí)域光譜儀THz-TDS可以同時(shí)直接探測被研究對象擾動(dòng)的THz波電場振幅和相位雙重信息。

Batop公司簡介

BATOP成立于2003年，是一家曾隸屬于德國耶拿大學(xué)的私人創(chuàng)新型公司。公司配備了來自于實(shí)驗(yàn)室領(lǐng)域的專業(yè)化技術(shù)開發(fā)和生產(chǎn)設(shè)計(jì)團(tuán)隊(duì)，使得其公司產(chǎn)品具有很高的品質(zhì)和具有競爭力的價(jià)格。在過去幾年里，BATOP一直致力于太赫茲光電導(dǎo)天線PCA和 太赫茲時(shí)域光譜儀系統(tǒng)THz-TDS的研發(fā)。BATOP不僅提供單帶隙光電導(dǎo)天線，還包括整合了微透鏡的高能大狹縫交叉光電導(dǎo)天線陣列。BATOP自主研發(fā)的太赫茲時(shí)域光譜儀THz-TDS性能穩(wěn)定，各項(xiàng)參數(shù)優(yōu)良，功能多樣：可實(shí)現(xiàn)快速掃描、配合外置的光纖耦合天線實(shí)現(xiàn)角度掃描、成像等功能。 BATOP借助強(qiáng)大的研發(fā)能力來不斷提高自己的產(chǎn)品。

太赫茲時(shí)域光譜儀TDS10XX產(chǎn)品特點(diǎn)：

——內(nèi)置樣品倉，可充氮?dú)?/span>進(jìn)行透反射測量

——規(guī)格多樣的外置光纖耦合光電導(dǎo)天線可選

——外置角度掃描裝置可選

——外置成像模塊可選

——T3DS軟件支持

    TDS10XX太赫茲時(shí)域光譜儀各型號參數(shù)規(guī)格：

太赫茲時(shí)域光譜儀TDS10XX可選配件：

                       快速掃描模塊 FSU                                                              光纖耦合天線對 2FCA

成像模塊 IU （電機(jī)行程可選15cm、30cm 、45cm）                                            角度掃描模塊 T2T

透射樣品架 SHT（放在樣品倉內(nèi)，用于透射譜測試）                           反射樣品架 SHR（放在樣品倉內(nèi)，用于反射譜測試）

      光纖耦合天線樣品架 SHF（可測試透射反射譜）                          衰減全反射樣品架 SHA（用于衰減全反射ATR測試）

2歐元硬幣成像：