為滿足AFM使用者對提高AFM使用效率的需求，Bruker開發(fā)了這套快速掃描系統(tǒng)，不降低分辨力，不增加設(shè)備復雜性，不影響儀器操作成本的前提下，幫助用戶實現(xiàn)了利Dimension快速掃描系統(tǒng)，即時快速得到**辨高質(zhì)量AFM圖像的愿望。當您對樣品進行掃描時，無論設(shè)置實驗參數(shù)為掃描速度> 125Hz，還是在大氣下或者溶液中1秒獲得1張AFM圖像，都能得到優(yōu)異的**辨圖像。快速掃描這一變革性的技術(shù)創(chuàng)新重新定義了AFM儀器的操作和功能。
高效率
- 在空氣或液體中成像速度是原來速度的100倍，自動激光調(diào)節(jié) 和檢測器調(diào)節(jié)，智能進針，**縮短了實驗時間。
- 自動測量軟件和高速掃描系統(tǒng)結(jié)合，大幅提高了實驗數(shù)據(jù) 的可信度和可重復性。
**辨率
- Fastscan精確的力控制模式提高圖像分辨率的同時，延長了探針的使用壽命。
- 掃描速度20Hz時仍能獲得高質(zhì)量的TappingModeTM圖像，掃描速度6Hz仍能獲得高質(zhì)量的ScanAsyst圖像。
- 低噪音，溫度補償傳感器展現(xiàn)出亞埃級的噪音水平。
在任何樣品上均有**表現(xiàn)
- 閉環(huán)控制的Icon和FastScan的掃描管極大地降低了Z方向噪音，使它們Z方向的噪音水平分別低于30pm和40 pm，具有**的熱漂移率，可得到超**辨的真實圖像。
- Fast Scan可以對不同樣品進行測量，保證高度從埃級到100多納米的樣品高精度無失真掃描。
性能特點
AFM**性能
Dimension FastScan AFM **的分辨率，與Bruker的電子掃描計算方法相結(jié)合，提供給用戶**提升的測量速度與質(zhì)量。Dimension Icon是我們工業(yè)**的針尖掃描技術(shù)的**革新，配置了溫度補償位置傳感器，展現(xiàn)出Z軸亞埃級范圍和XY軸埃級范圍的噪音水平，這個驚人的性能出現(xiàn)在大樣品臺，34微米和90微米的掃描范圍的系統(tǒng)上，尤勝**辨率原子力顯微鏡的開環(huán)噪音水平。XYZ閉環(huán)掃描頭的新設(shè)計也能展現(xiàn)較高掃描速度，而不損壞圖像質(zhì)量，實現(xiàn)更大的數(shù)據(jù)采集輸出量。Icon 掃描管比當今市場上任何一款大樣品臺AFM具有更低的噪音水平和更高的精確度。這種革新與新的掃描和下針算法相結(jié)合，即使是在難測量的樣品上也能得到更高的圖像保真效果。
杰出的生產(chǎn)力
使用Dimension系列原子力顯微鏡發(fā)表的文章遠比其他大樣品臺原子力顯微鏡要多。在科研和工業(yè)生產(chǎn)的過程研究中已成為一個標志性的符號。FastScan把此平臺引入了更**的新水平，展現(xiàn)出更高的性能和更快地獲得測量結(jié)果。其軟件的直觀工作流程，使其操作過程比以往***的AFM技術(shù)更加簡便?？梢允钩鯇W者在操作中，同樣得到專家級的圖像。Dimension FastScan用戶可以立即獲得高質(zhì)量的結(jié)果，而無需像以前一樣通常需要幾小時的專業(yè)調(diào)整。Dimension FastScan的每個方面—從開放式針尖樣品空間，到預存軟件參數(shù)設(shè)置—都經(jīng)過特殊設(shè)計以求達到無障礙操作和驚人的AFM操作簡易性。每分鐘低于200pm的熱漂移速率，全新的直觀用戶界面，世界聞名的Dimension AFM平臺，三者結(jié)合提供了的AFM儀器性能，保證您在*短時間內(nèi)得到測試結(jié)果并發(fā)表出版。
世界上*靈活的平臺
Dimension FastScan 展現(xiàn)出的的性能，堅固性和靈活度，使得這臺儀器實現(xiàn)了以前只有在特制的系統(tǒng)中才能完成的所有測量。利用開放式平臺，大型多元樣品支架和許多簡單易用的性能，將AFM強大的功能展現(xiàn)在科研領(lǐng)域和工業(yè)領(lǐng)域的研究者面前，為高質(zhì)量AFM 成像和納米研究設(shè)定了新的標準。Dimension 系列原子力顯微鏡在不斷演變提升，以迎合您不斷增長的研究需求。Dimension FastScan 支持AFM 的所有模式和力學、電學和電化學附件。
出眾的性能滿足各種應用需求
Dimension FastScan可同時高速捕捉多個通道的數(shù)據(jù)，獲得更多通道的高質(zhì)量數(shù)據(jù)。結(jié)合我們Bruker的很多AFM技術(shù)，模式和模式增強功能，Dimension FastScan以其的性能優(yōu)勢，幫助您完成更高水平的納米研究。
材料成像
FastScan在使用ICON的掃描管的情況下支持Bruker的PeakForce QNMTM成像模式，在使用快速掃描掃描
管的情況下可進行納米力學成像。使用FastScan技術(shù)，**減少了研究者獲得**辨率形貌和納米力學圖譜的時間。
納米操縱
可實現(xiàn)在納米和分子級別的納米操縱和刻蝕。FastScan的XYZ閉環(huán)掃描器解決了掃描管的蠕變效應，**提高了操縱的精確度。同時**噪音的精密探針的準確定位，適用于任何納米操作系統(tǒng)。
加熱和冷卻
在以各種AFM 模式掃描的同時可實現(xiàn)-35℃到250℃的溫度的精確控制和熱分析。另外還可使用熱探針對低于100nm的局部加熱到500℃。
電學表征
使用的模式，可以在更高的靈敏度和更大的動態(tài)范圍上實現(xiàn)電學表征。PeakForce TUNA™和PeakForce SSRM提供了的電學表征方法，同時還可以與樣品上的力學屬性相聯(lián)系。
利用*短時間獲得高質(zhì)量可發(fā)表數(shù)據(jù)結(jié)果
無論是作為科研交流還是發(fā)表科學文章，Dimension FastScan可比以前快幾十倍至上百倍獲得專業(yè)精確的數(shù)據(jù)測量和高質(zhì)量AFM圖片。真正的快速掃描AFM系統(tǒng)使您能夠運用簡易方法對大量數(shù)據(jù)進行快速準確的處理分析。
樣品篩選
利用AFM系統(tǒng)獲取大量樣品信，進行樣品常規(guī)篩選。無論是材料生產(chǎn)中進行失效分析或納米級的質(zhì)量控制，及時的產(chǎn)品信息反饋是的產(chǎn)品質(zhì)量控制過程。納米表征面臨提高表征速度的挑戰(zhàn)時，高**度成為條件。在獲取藥物配方的過程中需要大量的數(shù)據(jù)對其中的非晶藥物成分進行篩選，這可能成為FastScan的一個新用途。
動態(tài)應用范例
另一種常見的應用是觀察一個納米級物體在外部條件變化或受刺激的情況下，隨著時間產(chǎn)生變化的過程。無論是在空氣中還是在液體中，對納米尺度的動態(tài)變化觀察都是研究價值的。Dimesion FastScan為這種實驗提供了極為便利的條件。
應用領(lǐng)域
AFM可適用于各種的物品，如金屬材料、**子聚合物、生物細胞等，并可以操作在大氣、真空、電性及液相等環(huán)境，進行不同物性分析，所以AFM**的特點是其在空氣中或液體環(huán)境中都可以操作，因此，AFM在生物材料、晶體生長、作用力的研究等方面有**的應用。
原子力顯微鏡研究對象可以是有機固體、聚合物以及生物大分子等，樣品的載體選擇范圍很大，包括云母片、玻璃片、石墨、拋光硅片、二氧化硅和某些生物膜等。
研究生物醫(yī)學樣品和生物大分子的重要工具之一。AFM應用主要包括三個方面：生物細胞的表面形態(tài)觀測；生物大分子的結(jié)構(gòu)及其他性質(zhì)的觀測研究；生物分子之間力譜曲線的觀測。
AFM還可對原子和分子進行操縱、修飾和加工，并設(shè)計和創(chuàng)造出新的結(jié)構(gòu)和物質(zhì)。
