Sciencetech UHE太陽模擬器 3A等級(jí) 一站式
? 3A等級(jí)太陽光模擬
? 高電光轉(zhuǎn)換效率
? 運(yùn)行*保
? 輻照面積可達(dá) 30 cm × 30 cm

Sciencetech UHE太陽模擬器 3A等級(jí) 一站式

配置

兩種系列都可以設(shè)計(jì)成垂直向下照射或者水平照射。在垂直向下照射的工作模式下，UHE-NS 和 UHE-NL 都可以產(chǎn)生高度略高于書桌高度的均勻光斑。這種配置使用戶可以在站立或者坐著的時(shí)候都可以方便地操作太陽模擬器。

由于有較大的測(cè)試區(qū)域和工作距離，可以方便地與其它儀器進(jìn)行系統(tǒng)集成。

客戶可以選擇多種樣品區(qū)域的配件、可選項(xiàng)儀器配置和配件。

更多的產(chǎn)品信息和尺寸請(qǐng)參見1本產(chǎn)品手冊(cè)結(jié)尾處配置的定制化選項(xiàng)。

UHE-NS/NL 模擬器是在我們自己的校準(zhǔn)實(shí)驗(yàn)室中調(diào)整和測(cè)試輻照均勻度。我們采用了嚴(yán)格的質(zhì)量控制程序從而確保我們 的模擬器符合客戶的要求。

輻照不均勻度被定義為 :

  輻照不均勻度 (%) = (*大輻照度—*小輻照度 ) / (*大輻照度+*小輻照度 ) x 100,%

  輻照不均勻度采用以下方法測(cè)試:

      - 符合 ASTM E 927。 在 6 x 6 網(wǎng)格中測(cè)量36點(diǎn)。 探測(cè)器不能大于每個(gè)網(wǎng)格的尺寸

      - 符合 IEC 60904-9 和 JIS C 8912，并可以根據(jù)客戶要求測(cè)試。

光譜匹配度通過一個(gè)帶有光柵單色儀和寬波段探測(cè)器的校準(zhǔn)過的光譜輻射計(jì)進(jìn)行測(cè)量。測(cè)量分辨率設(shè)定為 < 10nm。

時(shí)間不穩(wěn)定性定義為:

時(shí)間不穩(wěn)定性 (%) = (*大輻照度—*小輻照度 ) / (*大輻照度+*小輻照度 ) x 100,%

時(shí)間不穩(wěn)定性是通過在10秒內(nèi)每秒取20個(gè)樣來進(jìn)行測(cè)量。

Sciencetech UHE太陽模擬器 3A等級(jí) 一站式