美國CHAVEZ查韋斯電容物位計系引進(jìn)制造工藝生產(chǎn)的物位測量產(chǎn)品。它使復(fù)雜的物位測量如高溫、高壓、真空、強(qiáng)腐蝕等介質(zhì)的物位測量變得容易而簡單。經(jīng)過不斷地的堅持和實踐，以射頻電容的物位測量系統(tǒng)日臻完善，現(xiàn)已開發(fā)利用并生產(chǎn)出能夠不同要求的如污水、污油、油水界面、固體顆粒等的物位測量產(chǎn)品。

電容物位計

二、主要特點

應(yīng)用射頻電容，從根本上解決了溫度、濕度、壓力、物體的導(dǎo)電性等因素對測量過程的影響，因而具有抗干擾性；

能夠測量強(qiáng)腐蝕性的液體和固體顆粒，如酸、堿、鹽、水、污水等液體和化工原料、飼料、糧食、煤灰、水泥、面粉等粉狀或顆粒狀固體。

高溫高壓測量：過程溫度25~+220℃；過程壓力-0.1~4.0MPa 。

現(xiàn)場定標(biāo)為用戶投用產(chǎn)品提供了便利。

HART通訊用手操器可遠(yuǎn)程調(diào)校

三、技術(shù)參數(shù)

◆ 電容物位儀表：兩線制，Hart，液晶顯示；

◆ 測量方式：射頻電容；

◆電    源：24VDC±10%      

◆輸   出：4~20mADC

◆  精    度：0.5%(4~20mA）    

◆環(huán)境溫度：-25~+70℃

◆ 環(huán)境濕度：0-95%RH           

◆介質(zhì)溫度：-25~+220℃

◆過程壓力：-0.1~4.0MPa

◆ 測量范圍：0-5000PF          

◆防爆標(biāo)志：Ex（ia）Ⅱ CT4

◆外    殼：鋁合金隔爆型，可用于潮濕、有酸氣等腐蝕環(huán)境

◆探    極：可采用任一種剛性或柔性探極