超高精度影像測量儀的核心部件都是經(jīng)過精密的組裝調(diào)校，測試，才能達(dá)到精度要求，實現(xiàn)可靠運行，是穩(wěn)定可靠測量設(shè)備。適用于以二維平面測量為目的的一切應(yīng)用領(lǐng)域，能夠高效地測量各種精密模具的輪廓和表面形狀尺寸、角度及位置，如長度、厚度、半徑、槽、寬度、孔距、間距、高度、圓弧、R角等。

中圖儀器Novator系列超高精度影像測量儀可以自動抓取數(shù)據(jù)點，測量點、線、圓、弧、橢圓、矩形等幾何特征，自動分析測量特征的各種參數(shù)，如寬度、直徑、位置、直線度、圓錐度、圓柱度等各種幾何尺寸。儀器特點是可以自動抓取產(chǎn)品的邊界和表面，尤其是在測量一些弱邊緣特征(如過渡曲線、圓角加工等)時能完成自動抓取。結(jié)合專用測量軟件對測繪要素數(shù)據(jù)進(jìn)行處理、評價和輸出。在保證精度的前提下，測量效率更高。

Novator系列超高精度影像測量儀采用大理石主體機(jī)臺和精密伺服控制系統(tǒng)，將傳統(tǒng)影像測量與激光測量掃描技術(shù)相結(jié)合，還支持頻閃照明和飛拍功能，可進(jìn)行高速測量，大幅提升測量效率；具有可獨立升降和可更換RGB光源，可適應(yīng)更多復(fù)雜工件表面。

產(chǎn)品優(yōu)勢

穩(wěn)固移動平臺、高測量精度

1.精密大理石機(jī)臺，穩(wěn)定性好，精度高。

2.精密線性滑軌和伺服控制系統(tǒng)，超低分貝運動。

3.三軸全自動可編程檢測，實現(xiàn)復(fù)雜特征批量檢測。

激光掃描成像、3D復(fù)合測量

1.支持點激光輪廓掃描測量，進(jìn)行高度方向上的輪廓測量。

2.支持線激光3D掃描成像，可實現(xiàn)3D掃描成像和空間測量。

3.VisionX測量軟件支持多種輪廓測量和3D空間測量，無縫連接2D/3D混合測量。

頻閃照明光源、高速硬件飛拍

1.具備頻閃照明光源，支持頻閃和普通雙模式。

2.支持飛拍模式測量，測量效率提升5~10倍。

3.融入中圖閃測儀的拼接測量功能，發(fā)揮綜合優(yōu)勢。

可更換RGB表光、獨立升降表光

1.可更換RGB表光和白色表光，適應(yīng)多種復(fù)雜顏色和材料表面。

2.表光可獨立升降，更好的觀察樣品表面。

3.支持六環(huán)八分區(qū)表面光、透射光、同軸光分段編程控制。

自動測量，批量更快

1.程序匹配工件坐標(biāo)系，自動執(zhí)行測量流程。

2.支持CAD圖紙和Gerber圖紙導(dǎo)入，坐標(biāo)系匹配測量。

3、CNC固定坐標(biāo)系模式下，可快速精確地進(jìn)行批量測量。

操作簡單，輕松無憂

1.具備大幅面導(dǎo)航相機(jī)，快速實現(xiàn)工件定位。

2.具有鏡頭防撞功能，輕松無憂。

3.一體化操作界面，任何人都能輕松設(shè)定和測量。

Novator可實現(xiàn)各種復(fù)雜零件的表面尺寸、輪廓、角度與位置、形位公差、3D空間形貌與尺寸結(jié)構(gòu)等精密測量。Novator可用于機(jī)械、電子、模具、注塑、五金、橡膠、低壓電器、磁性材料、精密沖壓、接插件、連接器、端子、手機(jī)、家電、印刷電路板、科研、鐘表、刀具、計量檢測等領(lǐng)域。

高度測量

Novator系列影像測量儀配備（1）觸發(fā)式測頭；（2）點激光(激光同軸位移計)；（3）三角激光三種傳感器配置，能精準(zhǔn)測量零件高度尺寸。

1、接觸式測量

影像測量儀+觸發(fā)式測頭組合相當(dāng)于一臺小的三坐標(biāo)測量儀，也就是我們說的復(fù)合式影像測量儀，在需要測量高度的地方，用探針取元素（點或者面），然后運用影像測量儀軟件中的Z軸自動對焦功能，測量得出高度。

2、非接觸式測量

通過搭載點激光(激光同軸位移計)、三角激光傳感器配置，點激光輪廓掃描測量以及線激光3D掃描成像進(jìn)行高度測量，平面度測量，針對鏡面和光滑斜面均可測量；或是運用影像測量儀軟件中的Z軸自動對焦功能，測量得出高度，這樣的測量方法可以減少人為誤差，不管是誰來測量，都可以測得同樣的數(shù)值，非常簡單方便。

平面度測量

在測量平面度時，可以將待測物放置在二維影像儀的工作臺上，使用光學(xué)放大鏡頭和圖像處理軟件來檢測物體表面的高低差異，并計算出物體表面的平坦度參數(shù)。通過與標(biāo)準(zhǔn)樣品的比較，可以判斷物體表面是否符合規(guī)定的平面度要求。需要注意的是，二維影像儀在測量平面度時，需要選擇合適的光學(xué)放大倍率和圖像處理算法，以保證測量結(jié)果的準(zhǔn)確性和可靠性。

光學(xué)測頭平面度測量

部分技術(shù)指標(biāo)