鐵電參數(shù)分析儀
產(chǎn)品簡(jiǎn)介：
本設(shè)備即可適用于壓電陶瓷材料居里溫度、縱向壓電應(yīng)變常數(shù)（靜態(tài)）、強(qiáng)場(chǎng)介電性能、熱釋電系數(shù)、品質(zhì)因數(shù)及機(jī)電耦合系數(shù)等；如增加高壓放大器模塊，也可實(shí)現(xiàn)鐵電材料的電學(xué)測(cè)試；配合高低溫試環(huán)境同時(shí)可以測(cè)量不同環(huán)境溫度下的材料性能參數(shù)。該系統(tǒng)可廣泛地應(yīng)用于如各種鐵電/壓電/熱釋點(diǎn)薄膜、厚膜、塊體材料和電子陶瓷、鐵電傳感器/執(zhí)行器/存儲(chǔ)器等領(lǐng)域的研究。為一體的綜合測(cè)試系統(tǒng)。為目前國(guó)內(nèi)研究壓電陶瓷材料/鐵電材料最為全面的測(cè)試設(shè)備。模塊化設(shè)計(jì)具有wuyulunbi的強(qiáng)大擴(kuò)展性。
產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)：
它可測(cè)壓電陶瓷居里溫度、靜態(tài)壓電常數(shù)；
測(cè)量壓電材料介電性能-1KHZ下的介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測(cè)試；
可測(cè)量壓電材料積分電荷法熱釋電系數(shù)測(cè)試；
它可測(cè)量壓電陶瓷的品質(zhì)因數(shù)及機(jī)電耦合系數(shù)；
可選配不同的測(cè)試裝置進(jìn)行不同環(huán)境下的壓電陶瓷參數(shù)測(cè)試；
本儀器可配合高壓放大器實(shí)現(xiàn)壓電及鐵電材料的綜合測(cè)試。
技術(shù)參數(shù)：
電壓范圍 | ±30V(可擴(kuò)展至±4kV) |
輸出電流峰值 | ±1A |
最大負(fù)荷電容 | 1μF |
動(dòng)態(tài)電滯回線測(cè)試頻率 | 0.001Hx~100kHz |
鐵電材料漏電流的測(cè)試 | 10pA~100mA |
最小脈沖寬度 | 25ns |
上升時(shí)間 | 7ns |
極化測(cè)試精確值 | 10fC |
塊體材料樣品盒測(cè)試溫度 | 室溫~1200°C電滯回線測(cè)定 |
技術(shù)說(shuō)明：
電壓范圍： +/- 25 V（可選的附加高壓放大器可擴(kuò)展至+/- 10KV）；
電滯頻率：增強(qiáng)型FE模塊250kHz，高速增強(qiáng)型FE模塊1MHz；
最小脈沖寬度：50ns；
最小上升時(shí)間：10ns；
最大疲勞頻率：16MHz；
電流放大范圍：1pA～1A；
最大負(fù)荷電容：1nF；
輸出電流峰值：+/-1 A。
壓電常數(shù)測(cè)試原理：
1、5—加壓裝置絕緣座 2、4—加壓裝置引出電極
3—試樣 C—并聯(lián)電容器
K—短路開關(guān) 6—靜電計(jì)
熱釋電系數(shù)測(cè)試原理:
1、冰點(diǎn) 2、熱電偶 3、屏蔽溫度室 4、試樣 5、絕緣保溫層
6、積分電容 7、靜電計(jì) 8、函數(shù)分析儀 9、加熱器 10、絕緣支架
使用介面：
多語(yǔ)介面：支持中文/英文兩種語(yǔ)言界面；
即時(shí)監(jiān)控：系統(tǒng)測(cè)試狀態(tài)即時(shí)瀏覽，無(wú)須等待；
圖例管理：通過(guò)軟件中的狀態(tài)圖示，一目了然，立即對(duì)狀態(tài)說(shuō)明，了解測(cè)試狀態(tài)；
使用權(quán)限：可設(shè)定使用者的權(quán)限，方便管理；
故障狀態(tài)：軟件具有設(shè)備的故障報(bào)警功能。
集成Intel@Celeron 1037U 1.8GHZ 雙核處理器
集成打機(jī)印接口，最大可擴(kuò)充8個(gè)USB接口
最大支持16G內(nèi)存，60G固態(tài)硬盤，讓系統(tǒng)運(yùn)行更加流暢。
鐵電材料參數(shù)分析儀綜合測(cè)試系統(tǒng)
鐵電材料參數(shù)分析儀綜合測(cè)試系統(tǒng)
