Elcometer 456涂層測(cè)厚儀Ultra/Scan探頭
Elcometer 456涂層測(cè)厚儀Ultra/Scan探頭具有高度耐用的“卡入式”可更換探頭蓋，是一項(xiàng)革命性的設(shè)計(jì)，可讓用戶獲取單獨(dú)的干膜厚度讀數(shù)或快速掃描大面積表面 - 而不會(huì)損壞探針或涂層。

Elcometer 456涂層測(cè)厚儀Ultra/Scan探頭具有高度耐用的“卡入式”可更換探頭蓋，是一項(xiàng)革命性的設(shè)計(jì)，可讓用戶獲取單獨(dú)的干膜厚度讀數(shù)或快速掃描大面積表面 - 而不會(huì)損壞探針或涂層。當(dāng)與Elcometer 456涂層測(cè)厚儀掃描或自動(dòng)重復(fù)模式*結(jié)合使用時(shí)，Ultra / Scan Probe使用戶能夠顯著減少干膜厚度檢測(cè)時(shí)間而不影響準(zhǔn)確性。Ultra / Scan探頭使用Elcometer 456涂層測(cè)厚儀的偏移特性+，確保在使用過程中任何帽蓋磨損＃都納入校準(zhǔn)過程中。 涂層測(cè)厚儀甚至?xí)ㄖ脩艉螘r(shí)更換蓋子。

掃描模式：
當(dāng)從涂層測(cè)厚儀中選擇掃描模式*時(shí)，用戶可以在整個(gè)表面區(qū)域上滑動(dòng)Ultra / Scan探針。 當(dāng)探頭離開表面時(shí)，儀表顯示平均涂層厚度值，zui高厚度和zui低干膜厚度值。 每組三個(gè)干膜讀數(shù)（平均值，高和低）可以顯示在運(yùn)行圖上，并存儲(chǔ)在涂層測(cè)厚儀的存儲(chǔ)器中。在每次掃描過程中，Elcometer 456涂層測(cè)厚儀都會(huì)顯示實(shí)時(shí)厚度讀數(shù)以及模擬條形圖，該圖形以圖形方式顯示相對(duì)于標(biāo)稱厚度和任何用戶定義限制的厚度。

自動(dòng)重復(fù)模式
當(dāng)Ultra / Scan探頭在自動(dòng)重復(fù)模式下在涂層表面上滑動(dòng)時(shí)，大約每半秒鐘進(jìn)行一次涂層厚度讀數(shù)。 每個(gè)單獨(dú)的干膜厚度讀數(shù)都存儲(chǔ)在存儲(chǔ)器中。
讀數(shù)速度超過每分鐘140個(gè)讀數(shù)，自動(dòng)重復(fù)模式可以顯著加快大涂層區(qū)域的干膜厚度檢測(cè)。

計(jì)數(shù)平均模式
S型和T型Elcometer 456涂層測(cè)厚儀均采用計(jì)數(shù)平均值模式。一旦用戶定義了在點(diǎn)測(cè)量中要獲取的單個(gè)測(cè)量?jī)x讀數(shù)的數(shù)量，涂層測(cè)厚儀將各個(gè)儀表讀數(shù)的平均值存儲(chǔ)到存儲(chǔ)器中。
 
修正批量大小
Elcometer 456涂層測(cè)厚儀T型中的固定批量尺寸功能允許用戶定義每個(gè)批次的zui大讀數(shù)。一旦達(dá)到zui大讀數(shù)，厚度計(jì)會(huì)自動(dòng)打開一個(gè)新批次，該批次與前一批次（名稱-1，名稱-2等）相關(guān)聯(lián)。
 
使用標(biāo)準(zhǔn)和測(cè)試方法
標(biāo)準(zhǔn)和測(cè)試方法通常描述在點(diǎn)測(cè)量中要采取的各個(gè)涂層測(cè)厚儀讀數(shù)的數(shù)量和/或在限定的表面積上所需的點(diǎn)測(cè)量的數(shù)量。
SSPC PA2要求每個(gè)點(diǎn)測(cè)量至少要有三個(gè)涂層測(cè)厚儀讀數(shù)，在10m2（?100ft2）范圍內(nèi)要進(jìn)行五個(gè)點(diǎn)測(cè)量。Elcometer涂層測(cè)厚儀456型S型或T型可以設(shè)置為3的計(jì)數(shù)平均值和5的固定批量尺寸以滿足這些要求。每批都定義了一個(gè)測(cè)量區(qū)域。
當(dāng)Elcometer 456 Ultra / Scan探頭連接到選擇自動(dòng)重復(fù)模式的Elcometer 456涂層測(cè)厚儀T型時(shí)，SSPC PA2（或類似的測(cè)試方法）可以完成40％以上的速度。
*****掃描和自動(dòng)重復(fù)模式需要Elcometer 456 T型超聲波探頭。
*****在光滑表面上進(jìn)行測(cè)試時(shí)，探頭端蓋已被掃描超過50公里（30英里）