可單獨(dú)使用，也可搭配顯微鏡/光譜儀使用。其可在 30℃ ~ 1000℃ 范圍內(nèi)控溫，同時允許探針電測試、光學(xué)觀察和樣品氣體環(huán)境控制。探針臺上蓋與底殼構(gòu)成一個氣密腔，可往內(nèi)充入氮?dú)獾缺Ｗo(hù)氣體，來防止樣品高溫下氧化，也可通入不同氣氛進(jìn)行氣敏性測試。

30℃~1000℃ 16 mm x 16 mm可充入保護(hù)氣體的氣密腔

接口四探針，手動點(diǎn)針 可選三同軸接口，用于p*測試

可從溫控器或電腦軟件控制，可提供軟件SDK

可做定制或改動，詳詢上海恒商

溫度范圍

30℃ ~ 1000℃

傳感器/溫控方式

K型熱電偶 / PID控制

大加熱/制冷速度

+200℃/min （100℃時）

小加熱/制冷速度

±0.01℃/min

溫度分辨率

0.2℃

溫度穩(wěn)定性

±1℃

軟件功能

可設(shè)溫控速率，可設(shè)溫控程序，可記錄溫控曲線

探針

默認(rèn)為錸鎢材質(zhì)的彎針探針

探針座

杠桿式探針支架，點(diǎn)針力度更大，電接觸性更好

點(diǎn)針

手動點(diǎn)針，每個探針座都可點(diǎn)到樣品區(qū)上任意位置

探針接口

默認(rèn)為BNC接頭，可選三同軸接口

*可增設(shè)腔內(nèi)接線柱（樣品接電引線）

樣品臺面電位

默認(rèn)為電接地，可選電懸空（作背電極），可選三同軸接口

非磁性改造

臺體可改用非磁性材質(zhì)制造，用于變溫霍爾效應(yīng)探針測試

適用光路

反射光路 *另有透射光路型號

小物鏡工作距離

9.6 mm *截面圖中WD

小聚光鏡工作距離

15.0 mm（僅透射光路型號） *截面圖中CWD

透光孔

φ2 mm（僅透射光路型號） *截面圖中φVA

上蓋窗片觀察

窗片范圍φ38mm，大視角±61.5° *截面圖中θ1

底部窗片觀察

大視角±11.3° *截面圖中θ2

加熱區(qū)/樣品區(qū)

25 mm x 25 mm

樣品腔高

7.6 mm *樣品大厚度由探針決定

放樣

打開上蓋后置入樣品再點(diǎn)針，關(guān)上蓋后無法移動探針

氣氛控制

氣密腔，可充入保護(hù)氣體

外殼冷卻

通循環(huán)水，以維持外殼溫度在常溫附近

窗片與物鏡冷卻

吹氣降溫管路

安裝方式

水平安裝 或 垂直安裝

臺體尺寸/重量

200 mm x 145 mm x 35 mm / 1500g