X射線衍射晶型分析儀是一種理想的、非破壞性的、可應(yīng)用于大部分類型樣品的無損分析方法?？捎糜诰嗟拇_定，含量檢測以及原子結(jié)構(gòu)的測定。樣品用量少，消除了可能產(chǎn)生的樣品物相被破壞和性質(zhì)改變的風(fēng)險(xiǎn)。

D8 ADVANCE---剖析藏在樣品中秘密
X射線衍射（XRD）是一種理想的、非破壞性的、可應(yīng)用于大部分類型樣品的無損分析方法！
X射線衍射可用于晶相的確定，含量檢測以及原子結(jié)構(gòu)的測定。樣品用量少，消除了可能產(chǎn)生的樣品物相被破壞和性質(zhì)改變的風(fēng)險(xiǎn)。
在實(shí)際應(yīng)用中，對除X射線衍射外的其他方法，復(fù)雜組分樣品的測量一直是一個(gè)艱巨的挑戰(zhàn)。對于X射線衍射，衍射圖譜中所有的細(xì)節(jié)信息都是有價(jià)值的，且會被考慮到，并終使樣品表征充分。
衍射圖譜由峰位置、強(qiáng)度和峰形組成，它代表了樣品的*特征。利用這些衍射信息，可推斷出樣品的性質(zhì)，同時(shí)獲取如下的信息：

從粉末到薄膜輕松的切換---TWIN/TWIN!
試想以下各種不同應(yīng)用的切換：物相分析和反射率分析（XRR）、掠入射(GID)和微區(qū)衍射、小角散射（SAXS）和透射、殘余應(yīng)力和結(jié)構(gòu)解析，是否可以不用手去更換這些精密的光學(xué)元件，就準(zhǔn)確地完成呢？
Yes！我們可以! 因?yàn)槲覀僁8 ADVANCE達(dá)芬奇設(shè)計(jì)擁有：TWIN/TWIN技術(shù)！

點(diǎn)線焦斑的切換，不再是問題---TWIST TUBE

現(xiàn)在，有了光管旋轉(zhuǎn)技術(shù)---布魯克AXSzhuan利技術(shù)，點(diǎn)線焦斑的切換不再困難，方便自如！
您只需要：松動(dòng)固定的螺絲，旋轉(zhuǎn)管投至確定的位置，然后旋緊螺絲，OK！達(dá)芬奇模式處理剩余的問題，自動(dòng)識別，自動(dòng)調(diào)整。