Leitz Reference Xi – “Xi” 代表著系統(tǒng)具備充分的“靈活性”。 將Leitz高性能的掃描技術(shù)應(yīng)用于新型Leitz Reference Xi，提供了豐富的測(cè)量選擇：從連接自動(dòng)旋轉(zhuǎn)測(cè)座的HP-S-X1掃描探測(cè)系統(tǒng)，到配備固定式掃描探測(cè)系統(tǒng)HP-S-X3C 一直到HP-S-X5 HD，能夠在配備加長(zhǎng)探針的情況下保持高精度。 在各種配置下提供一如既往的高精度 - 無(wú)論是分度還是固定式探測(cè)系統(tǒng)。通過(guò)配備支持多測(cè)頭的控制器，Leitz Reference Xi系列測(cè)量機(jī)還能夠配備激光掃描測(cè)頭、接觸式粗糙度測(cè)頭，實(shí)現(xiàn)微觀尺寸評(píng)定。這些不同形式的測(cè)頭傳感器可以通過(guò)SENMATION多測(cè)頭平臺(tái)整合在一臺(tái)Reference Xi 上隨時(shí)取用，實(shí)現(xiàn)在各種環(huán)境下的高精度、全自動(dòng)、復(fù)合式靈活測(cè)量。