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- 公司名稱 徠卡顯微系統(tǒng)(上海)貿(mào)易有限公司
- 品牌
- 型號
- 所在地
- 廠商性質(zhì) 其他
- 更新時間 2021/1/5 16:29:21
- 訪問次數(shù) 480
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LeicaDCM8光學(xué)表面測量系統(tǒng)采用的非接觸式三維光學(xué)表面測量技術(shù),融合了高清晰度共聚焦顯微鏡和干涉測量技術(shù)的多功能雙核系統(tǒng),提高工作效率。
您所查看的產(chǎn)品表面是否具有比較陡峭的坡度還是具有復(fù)雜的形貌?使用高清共聚焦顯微鏡能夠?qū)崿F(xiàn)2納米的垂直分辨率。您所查看的產(chǎn)品平面是否非常平整但具有非常微小的尖峰和凹坑?可從以下三種干涉測量模式中選擇:垂直掃描干涉測量(VSI);相移干涉測量(PSI)或者適用于分辨率高達(dá)0.1納米的擴(kuò)展相移干涉測量(ePSI)。如果您需要快速絢麗的高清二維圖像,則Leica DCM8可提供明視場模式和暗視場模式。
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