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- 公司名稱 北京眾星聯(lián)恒科技有限公司
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- 廠商性質(zhì) 經(jīng)銷商
- 更新時間 2020/12/30 16:31:53
- 訪問次數(shù) 323
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X射線相襯微米CT系統(tǒng) 和傳統(tǒng)的X射線吸收成像相比,X射線相位襯度成像能夠為輕元素樣品提供高得多的襯度,特別適合 用于對軟組織和輕元素構(gòu)成的樣品進(jìn)行成像。目前,主要的5類相襯成像方式中,大部分對光源的相干性 要求很高, 只能依賴同步輻射光源。由于同步輻射源占地面積大, 初期建設(shè)和日常使用及維護(hù)成本太 高,現(xiàn)階段還無法滿足臨床上日常檢查的需求,世界上很多從事相襯成像方法研究的小組都在致力于將 相襯成像技術(shù)推廣到臨床上。目前己經(jīng)普遍使用的微焦點源或者是傳統(tǒng)的X光管,從數(shù)值模擬和實驗結(jié)果 來看,在進(jìn)行微焦點源同軸相襯成像實驗時,會遇到曝光時間長、光源相干性差、X光能量選擇性受限等 問題。 眾星聯(lián)恒科技科技有限公司致力于為X射線科研用戶提供一站式服務(wù)。在同軸相襯成像應(yīng)用領(lǐng)域,我們和眾多的設(shè)備供應(yīng)商以及國內(nèi)外研究所建立了良好的合作關(guān)系,無論是對光源、光學(xué)組件、探測器等核心部件有需求的系統(tǒng)搭建型研究客戶,還是希望獲得系統(tǒng)解決方案的客戶,我們都能提供專業(yè)、高效的服務(wù)。 典型系統(tǒng)配置一 5μm焦斑尺寸@4W 40-100KV,20W 分辨率 4K×4K pixels 大物體尺寸(直徑和高) 典型系統(tǒng)配置二 幀率 40fps 4fps 45fps 貝爾胡椒種子測試 Kevlar復(fù)合材料測試 相對測試結(jié)果 非相襯測試結(jié)果 樣品前視圖(左)和相襯成像顯示10 μm不均勻線結(jié)構(gòu)光源 探測器 重構(gòu) Offset scan:56mm?, height 43mm 2K×8K pixels (4K×4K) 像素尺寸 8μm×8μm (4K×4K) 2μm焦斑尺寸@4W 40-110KV,16W MTF@60KV 80%@10LP/mm Single scan:32mm?,height 32mm 50%@45LP/mm (4K×4K) 30%@64LP/mm Offset scan:89mm? ,height 27mm DQE@60KV 40%@10LP/mm (2K×8K) 22%@45LP/mm Single scan:65mm?,height 16mm 11%@64LP/mm (2K×8K) 靶材 l1液態(tài)金屬流 l2液態(tài)金屬流 探測器 9.2KeV峰值亮度 2.6×10^10 1.6×10^10 像素數(shù) 2.5K×2.2K 4.1K×4.1K 6.1K×6.1K 24.1KeV峰值亮度 2.2×10^9 3.7×10^9 分辨率 2.6μm 4.9μm 5.8μm 電壓 30-160KV 體素尺寸 1.2μm 1.7μm 2.0μm 小焦斑尺寸 6 視場 4.0mm×3.4mm 32mm×32mm 80mm×80mm 功率@小焦斑 52 大樣品尺寸 40mm 40mm 60mm 焦斑尺寸@大功率 18 大功率 250
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