3321型空氣動力學(xué)粒徑譜儀（APS3321）是高性能、多用途的新一代粒子測量儀器，其所具有的*設(shè)計可以同時測量如下2個屬性：

空氣動力學(xué)粒徑:APS3321通過精密的飛行時間（TOF）技術(shù)可以實時測量粒子的空氣動力學(xué)粒徑，其粒徑測量范圍達(dá)到0.5～20μm。由于基于飛行時間的空氣動力學(xué)粒徑計數(shù)僅僅與粒子形狀相關(guān)，從而避免了折射系數(shù)和米散射的干擾，因此儀器對粒徑的測量性能優(yōu)于同類的光學(xué)散射儀器。此外，飛行時間測量粒徑所具有的單調(diào)對應(yīng)曲線確保了在整個粒徑測量范圍內(nèi)的高分辯率。

光學(xué)散射強(qiáng)度：通過光學(xué)散射測量技術(shù)，APS3321的測量粒徑可以達(dá)到0.37～20μm。雖然光學(xué)散射強(qiáng)度并不總是顆粒物粒徑的可靠表征參數(shù)，但它仍然是人們感興趣的一項參數(shù)。APS3321可以分別提供同一粒子的空氣動力學(xué)粒徑和光學(xué)散射強(qiáng)度這兩項參數(shù)的數(shù)據(jù)，并單獨存儲。