背光反射計OBR 5T-50 描述 --> LUNA公司的OBR 5T-50是一個快速、易于使用的低成本精密反射計。OBR 5T-50可用來測量光學(xué)無源器件和模塊的插損和回損（IL和RL）的分布，測試對象包括PLC器件、光纖、連接頭、光開關(guān)、耦合器，等各類無源器件。

• 測量速度、長度和精度綜合能力業(yè)界
• 10Hz掃描速度，20微米的空間分辨率，8米的測量長度
• 簡化的操作界面，并隨機提供SDK
• 自動低位反射點，并報告RL和IL

• 故障定位
• 測量回損和插損（RL和IL）
• 自動化測試及報告
• 亞皮秒級的SKEW測量
• 實時光學(xué)準直

參數(shù)	單次掃描	10次掃描	單位
長度:
大測量長度	8.5		meters
空間分辨率	20		um
長度測量精度	±0.015%
死區(qū):
	20		um
波長:
波長范圍	40		nm
波長精度	1.5		pm
中心波長	1546.69		nm
回損:
動態(tài)范圍	60	65	dB
回損量程	-14~-120	-14~-125	dB
靈敏度	-120	-125	dB
分辨率	± 1.0	± 1.0	dB
回損精度	± 1.0		dB
插損:
動態(tài)范圍	10	15	dB
分辨率	± 0.5	± 0.5	dB
插損精度	± 0.5		dB
掃描速度:
	11.9		Hz
大光功率:
	8		mW
其他:
光纖接頭	FC/APC
重量	7.85		kg
規(guī)格(W*D*H)	360 x 320 x 170		mm
大功耗	50		W