| 參考價 | 面議 |
LA-ICP-MS 的量子級飛躍
J200LA-fs飛秒激光剝蝕進樣系統(tǒng)是LA-ICP-MS技術向高精度、高準確度、高靈敏度水平發(fā)展的重大突破。J200LA-fs確保元素和同位素不分解的情況下，均勻剝蝕樣品成透明狀，這意味著剝蝕的顆粒能真實地代表樣品的化學特性，這是采用長脈沖激光技術無法達到的。
| 激光器 | 工業(yè)級高頻Ytterbium diode飛秒激光器，343 nm和1030 nm，頻率可調(diào)，大10KHz |
| 能量控制 | 連續(xù)可調(diào)光學衰減器，集成激光能量監(jiān)測單元 |
| 激光光閘 | 自動光閘保證激光能量穩(wěn)定 |
| 激光脈沖能量(激光頭輸出) | 大150µJ/脈沖 @ 343 nm* ，大 1mJ/脈沖 @ 1030 nm |
| 激光光斑大小控制 | 3-70微米，結(jié)合了自動光束擴展器和狹縫成像 光斑大小范圍取決于不同設備的型號，可用戶自定義光斑大小范圍 |
| 自動X-Y軸 | 100 mm X 100 mm 行程范圍，分辨率0.2微米 |
| 自動Z軸 | 35mm行程范圍，Z軸可以實現(xiàn)樣品自動高度調(diào)整，分辨率0.5微米 |
| 剝蝕點定位 | 紅色激光具有更好的信號精度，ASI的自動對焦技術 |
| 樣品圖像 | 高分辨率的雙CMOS鏡頭，用于高倍放大和大視野預覽，支持光學變焦 |
| 樣品成像光源 | 泛光LED燈，同軸反射光和透明光源，正交十字光 |
| 氣體控制 | 雙路數(shù)字流量控制器，可選第三個流量控制器（用于氮氣或其他氣體） 電控兩向和三向閥，ASI氣體控制單元 |
| 樣品室 | Flex™ 樣品室具有系列可更換的墊片，適合不同大小的樣品 Vertex™樣品室具有快速沖洗效率和大量樣品的運送能力 可用戶自定義樣品固定裝置，ASILIBS測量兼容性 |
| 與ICP-MS通訊 | 在J200和ICP-MS之間實現(xiàn)雙向控制 |
| LIBS檢測器 (僅適用于Tandem系統(tǒng)) | Czerny Turner光譜儀 / ICCD檢測器 |
| 儀器軟件 | Axiom LA系統(tǒng)操作軟件，ASI的TruLIBS™發(fā)射光譜數(shù)據(jù)庫（用于Tandem系統(tǒng)） Clarity Femto數(shù)據(jù)處理軟件（處理LA-ICP-MS和LIBS的數(shù)據(jù)，進行定量計算/物質(zhì)分類） |
| 激光安全等級 | 一級激光產(chǎn)品，樣品加載區(qū)域有光學安全隔離板，激光自鎖保護裝置 |
| 系統(tǒng)尺寸 | 70” (長) X 26” (深) X 30” (高) [178cm(長) X 66cm(深) X 76cm(高)] (僅LA主機) 75” (長) X 26” (深) X 30” (高) [191cm(長) X 66cm(深) X 76cm(高)] (Tandem+LIBS檢測器) |
| 重量 | 600 lbs [272Kg](僅LA主機)；600-650lbs[272-295Kg](Tandem+LIBS檢測器) |
| 供電要求 | 110-240 VAC,50/60 Hz, 5A, 保險10A |
| 質(zhì)保 | 所有硬件和軟件質(zhì)保一年，飛秒激光器質(zhì)保兩年 |
| 認證 | CE認證 |
| 可選項 | LA升級為Tandem系統(tǒng) |
| 延保 | 可簽署多年質(zhì)保和服務協(xié)議 |
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