清潔度顆粒檢測(cè)儀是精密設(shè)計(jì)的零部件清潔度分析系統(tǒng)，對(duì)過(guò)濾紙的殘留粒子進(jìn)行檢測(cè)，重要的是能對(duì)工件的清潔程度進(jìn)行可靠和再現(xiàn)性的評(píng)估。
本清潔度分析系統(tǒng)采用10倍像素解決方案，確保分析精度。
清潔度顆粒檢測(cè)儀會(huì)自動(dòng)將顆粒分為以下三類(lèi)：
金屬顆粒：通常是關(guān)注的，并且是關(guān)鍵的顆粒。
非金屬顆粒，不含纖維：這些顆粒和金屬顆粒一樣是關(guān)鍵性污染物顆粒。
纖維：這些顆粒在測(cè)試的準(zhǔn)備和操作過(guò)程中是無(wú)法避免的。因此，即使有時(shí)候纖 維是濾膜上z大的顆粒，其關(guān)注度也是相對(duì)不高。
將顆粒預(yù)分為三類(lèi),可減少手動(dòng)操作的工作量,并且關(guān)注所有與實(shí)際操作相關(guān)的顆粒。
通過(guò)偏振鏡機(jī)構(gòu)對(duì)濾膜進(jìn)行二次掃描，并實(shí)現(xiàn)對(duì)濾膜上金屬和非金屬顆粒 的統(tǒng)計(jì)和鑒別。 針對(duì)塑料、玻纖等同樣會(huì)產(chǎn)生反射的物體，系統(tǒng)會(huì)自動(dòng)將其與金屬顆粒區(qū)分開(kāi)，此方法有效的回避了被誤判為金屬顆粒的風(fēng)險(xiǎn)。
備注：
本設(shè)備設(shè)計(jì)參考理論依據(jù)
1.ISO 16232-7/VDA19對(duì)顆粒屬性定義
2、ISO 16232-7/VDA19分辨率定義
3、根據(jù)VDA 19.1理論：弱化/避開(kāi)蕞小顆粒測(cè)試是近來(lái)的發(fā)展趨勢(shì)，只有少數(shù)特殊案例，其部件間隙容差非常小，會(huì)要求分析長(zhǎng)度在5～50μm的顆粒，在實(shí)際常規(guī)案例中，長(zhǎng)度在5～50μm的顆粒是沒(méi)有相關(guān)性的，而且對(duì)這么小的顆粒進(jìn)行分析工作量十分巨大，甚至?xí)蔀橐环N工作阻礙。因此，現(xiàn)在已將大于50μm的顆粒分析作為標(biāo)準(zhǔn)要求。
產(chǎn)品特點(diǎn)：
全自動(dòng)運(yùn)行掃描，無(wú)縫拼接技術(shù)
經(jīng)過(guò)色差校正的高分辨率光學(xué)系統(tǒng)
采用像素解決方案
電腦控制和操作桿控制XY電動(dòng)平臺(tái)
優(yōu)化色溫恒定LED光纖照明
簡(jiǎn)單而快捷的操作界面
掃描過(guò)程中的實(shí)時(shí)結(jié)果
可靠性和重復(fù)性
自動(dòng)計(jì)算金屬顆粒，非金屬顆粒，纖維顆粒
