品牌：卡爾·蔡司

 型號(hào)：SUPRA 55 SAPPHIRE

 制造商：德國卡爾蔡司公司

【品牌故事】 
    世界*光學(xué)品牌，可見光及電子光學(xué)的----德國蔡司公司始創(chuàng)于1846年。其電子光學(xué)前身為LEO（里奧）,更早叫Cambridge（劍橋），積掃描電鏡領(lǐng)域40多年及透射電鏡領(lǐng)域60年的經(jīng)驗(yàn)，ZEISS電子束技術(shù)在世界上創(chuàng)造了數(shù)個(gè)*：

   *臺(tái)靜電式透射電鏡 （1949）
    *臺(tái)商業(yè)化掃描電鏡 （1965）
    *臺(tái)數(shù)字化掃描電鏡（1985）
    *臺(tái)場發(fā)射掃描電鏡（1990）
    *臺(tái)帶有成像濾波器的透射電鏡 （1992）
    *臺(tái)具有Koehler照明的 200kV 場發(fā)射透射電鏡（2003）
    *臺(tái)具有鏡筒內(nèi)校正Omega能量濾波器的場發(fā)射透射電鏡（2003）

    CARL ZEISS以其前瞻性**的設(shè)計(jì)融合歐洲*制造工藝造就了該品牌在光電子領(lǐng)域無可撼動(dòng)的*地位。自成立至今，一直延續(xù)不斷創(chuàng)新的傳統(tǒng)，公司擁有電鏡制造zui核心的專有技術(shù)，隨著離子束技術(shù)和基于電子束的分析技術(shù)的加入、是*為您提供鎢燈絲掃描電鏡、場發(fā)射掃描電鏡、雙束顯微鏡（FIB and SEM）、透射電子顯微鏡等全系列解決方案的電鏡制造企業(yè)。其產(chǎn)品的高性能、高質(zhì)量、高可靠性和穩(wěn)定性已得到*廣大用戶的信賴與認(rèn)可。作為電鏡標(biāo)準(zhǔn)*的CARL ZEISS將一路*電鏡市場為您開創(chuàng)探求納米科技的嶄新紀(jì)元。

【總體描述】

    SUPRA 55 SAPPHIRE是一款擁有第三代GEMINI鏡筒的高性能場發(fā)射電子顯微鏡，它有*的擺動(dòng)緩沖系統(tǒng)，并結(jié)合了5軸驅(qū)動(dòng)載物臺(tái)，通過不斷變換電壓可以獲得很高的分辨率。對(duì)于使用者來說，SUPPRA 55 SAPPHIRE的系統(tǒng)功能強(qiáng)大，可以在性對(duì)不穩(wěn)定的環(huán)境下完成檢測，*分析型的場發(fā)射掃描電鏡探針電流可達(dá)到20nA，適用范圍如材料領(lǐng)域、半導(dǎo)體技術(shù)、生命科學(xué)和納米技術(shù)領(lǐng)域等。

    ZEISS的場發(fā)射掃描電鏡全部采用新一代鏡筒（GEMINI）設(shè)計(jì)，具有優(yōu)良的高、低加速電壓性能。創(chuàng)新的InLens設(shè)計(jì)是目前世界上*真正的內(nèi)置鏡筒電子束光路上二次電子探測器，具有*的靈敏度和zui高的接收效率，而且只接收來自樣品表面的二次電子，因此具有業(yè)界zui高等級(jí)的分辨率和圖像質(zhì)量。二次電子探測器和背散射電子探測器均內(nèi)置于鏡筒電子束光路上，試樣的工作距離不受背散射探測器的影響，可以非常接近極靴，這樣可以同時(shí)獲得zui高的二次電子像分辨率和背散射電子像分辨率，且接收的背散射電子的能量可以控制。ZEISS的場發(fā)射掃描電鏡創(chuàng)造性的采用電磁、靜電復(fù)合式物鏡，雜散磁場小，可對(duì)鐵磁體樣品進(jìn)行高分辨率成像。

【技術(shù)參數(shù)】
分辨率：   0.8nm@ 15KV    
           1.6nm @ 1KV           
           2.0nm @ 30KV（VP mode）
放大倍數(shù)： 12 - 1,000,000x
加速電壓： 0.02 - 30 KV
探針電流： 4 pA - 20 nA （12pA - 100 nA 可選）
樣品室：   330 mm （φ） x 270 mm （h）
樣品臺(tái)：   5軸優(yōu)中心全自動(dòng) 
                 X = 130mm 
                 Y = 130 mm 
                 Z = 50mm 
                 T = -3 to 70° 
                 R = 360°連續(xù)旋轉(zhuǎn)
系統(tǒng)控制：基于Windows XP 的SmartSEM操作系統(tǒng),可選鼠標(biāo)、鍵盤、控制面板控制

 【產(chǎn)品應(yīng)用】
      掃描電鏡（SEM）廣泛地應(yīng)用于金屬材料（鋼鐵、冶金、有色、機(jī)械加工）和非金屬材料（化學(xué)、化工、石油、地質(zhì)礦物學(xué)、橡膠、紡織、水泥、玻璃纖維）等檢驗(yàn)和研究。在材料科學(xué)研究、金屬材料、陶瓷材料、半導(dǎo)體材料、化學(xué)材料等領(lǐng)域進(jìn)行材料的微觀形貌、組織、成分分析，各種材料的形貌組織觀察，材料斷口分析和失效分析，材料實(shí)時(shí)微區(qū)成分分析，元素定量、定性成分分析，快速的多元素面掃描和線掃描分布測量，晶體、晶粒的相鑒定，晶粒尺寸、形狀分析，晶體、晶粒取向測量。