華測(cè)儀器--高溫介電溫譜儀
HCWP系列
高溫阻抗、介電測(cè)量系統(tǒng)軟件將高溫測(cè)試平臺(tái)、高溫測(cè)試夾具與
WK6500系列、Agilent4294A/E4980A/E4990A、同惠
TH2826/2827/TH2839等LCR測(cè)量設(shè)備無縫連接
產(chǎn)品介紹
華測(cè)儀器--高溫介電溫譜儀用于分析寬頻、高溫條件下被測(cè)樣品的阻抗Z、電抗X、導(dǎo)納Y、電導(dǎo)G、電納B、電感L、介電損耗D、品質(zhì)因數(shù)Q等物理量，同時(shí)還可以分析被測(cè)樣品隨溫度、頻率、時(shí)間、偏壓變化的曲線，是專業(yè)從事材料介電性能、溫度弛豫、電弛豫研究的理想測(cè)試工具。用戶通過軟件可以直接得出介電常數(shù)和介電損耗、阻抗譜、磁導(dǎo)率、機(jī)電耦合系數(shù)等隨溫度、時(shí)間、頻率、偏壓變化的曲線，HGJW-800高溫介電測(cè)量系統(tǒng)是功能陶瓷器件實(shí)驗(yàn)室*電學(xué)性能評(píng)估設(shè)備。
HGJW-800系統(tǒng)搭配Labview系統(tǒng)開發(fā)的hcpro軟件，具備彈性的自定義功能，可進(jìn)行頻率、溫度、時(shí)間、測(cè)試項(xiàng)等設(shè)置，符合絕緣材料測(cè)試多樣化的需求。
本高頻介電溫譜系統(tǒng)主要用于絕緣材料在不同溫度不同頻率下的電學(xué)性能測(cè)試，系統(tǒng)包含高溫爐膛，阻抗分析儀，微電流表，夾具，測(cè)試軟件于一體，可測(cè)試材料的介電常數(shù)，介質(zhì)損耗，阻抗譜Co-Co圖，機(jī)電耦合系數(shù)等，同時(shí)可分析被測(cè)樣品隨溫度，頻率，時(shí)間變化的曲線，測(cè)試治具可以根據(jù)產(chǎn)品及測(cè)試項(xiàng)目要求選購(gòu)。
公司開發(fā)的高溫阻抗、介電測(cè)量系統(tǒng)軟件將高溫測(cè)試平臺(tái)、高溫測(cè)試夾具可與安捷倫（是德科技）、穩(wěn)科、同惠等廠家的LCR測(cè)量設(shè)備無縫連接實(shí)現(xiàn)了自動(dòng)完成高溫環(huán)境下的阻抗、介電參數(shù)的測(cè)量與分析。另外，還可根據(jù)用戶提供的其他LCR品牌或型號(hào)完成定制需求。軟件可根據(jù)實(shí)驗(yàn)方案設(shè)計(jì)，通過測(cè)量C和D值，自動(dòng)完成介電常數(shù)和介電損耗隨頻率、電壓、偏壓、溫度、時(shí)間多維變化的曲線。一次測(cè)量，同時(shí)輸出，測(cè)量效率高、數(shù)據(jù)豐富多樣。
產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)
優(yōu)勢(shì)一
華測(cè)公司為國(guó)內(nèi)針對(duì)新材料電性能檢測(cè)儀器全系列廠家，試驗(yàn)效率高。
優(yōu)勢(shì)二
高溫介電溫譜儀可實(shí)現(xiàn)高溫下的勻速、階梯、降溫下的全溫度范圍的測(cè)試。
優(yōu)勢(shì)三
高溫介電溫譜儀可實(shí)現(xiàn)小于±0.5℃溫度測(cè)量誤差（限反射爐），精度控制在±0.25℃以內(nèi)。
產(chǎn)品特點(diǎn)
公司自主研發(fā)有高溫介電測(cè)試夾具可與高溫測(cè)試平臺(tái)配套構(gòu)成高溫阻抗、介電測(cè)量系統(tǒng)；溫度范圍從室溫至600℃、800℃、1000℃、1200℃，具備精確的PID控制算法，控溫精度可到士0.5℃，確保溫度控制不超調(diào)。提供7種不同控溫方式，滿足客戶多種測(cè)試需求。高溫介電測(cè)試夾具根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)ASTMD150方法，采用平行板電極原理設(shè)計(jì)。電極由上電極、下電極以及保護(hù)電極組成。上下電極有良好的同心度和平行度，保護(hù)電極可減少周圍空氣電容的影響，使得測(cè)試數(shù)據(jù)更加準(zhǔn)確可靠。
高速加熱與冷卻方式
高能量的紅外燈和鍍金反射方式允許高速加熱到高溫。同時(shí)爐體可配置水冷系統(tǒng)，增設(shè)氣體冷卻裝置，可實(shí)現(xiàn)快速冷卻。
溫度控制
過紅外鍍金聚焦?fàn)t和溫度控制器的組合使用，可以精確控制樣品的溫度（遠(yuǎn)比普通加溫方式）。此外，冷卻速度和保持在任何溫度下可提供。
不同環(huán)境下的加熱與冷卻
加熱/冷卻可用真空、氣氛環(huán)境、低溫（高純度惰性氣體，靜態(tài)或流動(dòng)），操作簡(jiǎn)單，使用石英玻璃制成。紅外線可傳送到加熱/冷卻室。
整體為桌面型設(shè)計(jì)，采用紅外燈加熱，無保溫爐膛結(jié)構(gòu)，滿足實(shí)驗(yàn)室無灰塵排放的要求。
內(nèi)置工控機(jī)、觸摸屏，可以利用工控機(jī)設(shè)定加熱曲線，并實(shí)現(xiàn)和其他測(cè)試設(shè)備的集成控制。
定點(diǎn)控溫模式下，可以將樣品10s內(nèi)加熱到1000攝氏度。
控溫加熱下，可以5度/s速率下線性加熱到1000攝氏度。
在1000度下可以連續(xù)工作時(shí)間不低于1小時(shí)。
采用鉑熱電偶直接測(cè)定樣品附近溫度。
樣品可以工作在大氣、真空、氣氛環(huán)境下加熱。
配備真空泵，水冷設(shè)備，配備超溫、缺水、過流等報(bào)警保護(hù)裝置。
溫度均勻區(qū)：60mm*100mm。
硬件配置
l集成@Celeron 1037U 1.8GHZ雙核處理器
l集成打機(jī)印接口，zui大可擴(kuò)充8個(gè)USB接口
lzui大支持16G內(nèi)存，60G固態(tài)硬盤，讓系統(tǒng)運(yùn)行更加流暢
軟件功能
HC5000系列測(cè)試系統(tǒng)的軟件平臺(tái)hacepro，采用labview系統(tǒng)開發(fā)，符合絕緣材料介電常數(shù)及介質(zhì)損耗性能的各項(xiàng)測(cè)試需求，具備強(qiáng)大的的穩(wěn)定性與安全性，并具備斷電資料的保存功能，圖像資料可保存恢復(fù)，支持新的標(biāo)準(zhǔn)。兼容，XP、win7、win10系統(tǒng)。
多語(yǔ)介面：支持中文/英文兩種語(yǔ)言界面；
即時(shí)監(jiān)控：系統(tǒng)測(cè)試狀態(tài)即時(shí)瀏覽，無須等待；
圖例管理：通過軟件中的狀態(tài)圖示，立即對(duì)狀態(tài)說明，了解測(cè)試狀態(tài)；
使用權(quán)限：可設(shè)定使用者的權(quán)限，方便管理；
故障狀態(tài)：軟件具有設(shè)備的故障報(bào)警功能。
技術(shù)指標(biāo)
溫度范圍：室溫-800℃，（反射爐加溫）配水冷機(jī)）；
控溫精度：±0.5℃（溫控高）；
測(cè)量精度：±0.25℃；
升溫斜率：1-800℃/min（zui快可10秒達(dá)800度）；
降溫斜率：1-200℃/min（可自調(diào)整）；
頻率范圍：20Hz-1MHz；
測(cè)量精度：0.05%；
樣品規(guī)格：直徑：20mm以內(nèi)；厚度：5mm以內(nèi)；
電極材料：鉑金；
測(cè)量方式：2線-4線測(cè)量方式；
供電：220V±10%，50Hz；
工作環(huán)境：0℃-55℃；
存儲(chǔ)條件：-40℃-70℃；
尺寸：750mmX660mm×360mm；
重量：25kg
部分典型用戶
天津大學(xué)
青島魯芯儀器有限公司
沈陽(yáng)貝海瀛科技有限公司
