紅外應力雙折射測量儀
硫系，紅外樹脂等材料對可見光不透過，這樣的樣品殘余應力評估很難實現(xiàn)，為此Photonic Lattece 專門研制了WPA-NIR雙折射測量儀，采用850nm或940nm波長，能高速的測量和分析近紅外材料的雙折射/殘余應力分布，安裝既有的操作簡單和實用的軟件WPA-View，可以自由分析任意線上的相位差分布圖形、任意區(qū)域內的平均值等的定量數(shù)據。

紅外應力雙折射測量儀主要特點：

• 紅外波長的雙折射/相位差面分布測量

• 硫系、紅外透明樹脂等的光學畸變評估

• 小型、簡単操作、高速測量

• WPA-NIR能高速的測量/分析波長為850nm或940nm的雙折射分布

• 安裝既有的操作簡單和實用的軟件WPA-View

• 可以自由分析任意線上的相位差分布圖形、任意區(qū)域內的平均值等的定量數(shù)據

• 可搭配流水線對應的『外部控制選配』，也可應用于量產現(xiàn)場

紅外應力雙折射測量儀主要功能：

• 高速測量面的雙折射/相位差分布

• NIR波長僅需操作鼠標數(shù)秒內就能獲取高密度的雙折射/相位差信息

• 測量數(shù)據的保存/讀取簡單快捷

• 全部的測量結果都可以做保存/讀取，易于跟過去的測量結果做比較等

• 豐富的圖形創(chuàng)建功能

• 可以自由制作線圖形和直方圖

• 測量結果可以在一個圖形上做比較，也可以用CSV格式輸出