二手島津X射線熒光光譜儀 EDX-700HS采用ｘ射線聚光透鏡[集束毛細管透鏡]，x射線只照射樣品的50μmφ微小領(lǐng)域，實現(xiàn)高靈敏度、高精度分析。

二手島津X射線熒光光譜儀 EDX-700HS特點：

采用ｘ射線聚光透鏡[集束毛細管透鏡]，x射線只照射樣品的50μmφ微小領(lǐng)域，實現(xiàn)高靈敏度、高精度分析。

可以在大氣中進行從輕元素到重元素（na～u：μedx-1300；al～u：μedx-1200/1400）的分析。

配備雙ccd（高倍率，低倍率）攝像頭，可以在觀察樣品圖像的同時方便地決定分析位置，進行分析。

標準配備無標樣定量fp法、薄膜成分/膜厚分析用的薄膜fp法以及可以測定聚合物薄膜的背景基本參數(shù)（bg-fp）法。

作為微區(qū)ｘ射線熒光光譜分析裝置，在世界上*配備了5種1次ｘ射線濾光片自動交換機構(gòu)，可消除來自ｘ射線管的特征ｘ射線，提高信噪比。

配備多元素同時/自動掃描成圖功能。采用高速掃描成圖，在短時間內(nèi)便可獲得圖像（μedx-1200/1300）。追加透射觀察單元（選購），也可進行透射ｘ射線的同時測定。

配備電子冷卻式高計數(shù)率檢測器。無需液氮，可進行高精度分析。

可輕松地進行電子材料/部件的鍍層膜厚測定、異物檢測、失效解析及成圖分析。

二手島津X射線熒光光譜儀 EDX-700HS配置參數(shù)：

主機部分：

1、X射線發(fā)生器單元

X射線管

類型 Rh靶

冷卻方法 空冷（附風扇）

2、X射線電源單元

電壓 5-50kV，每步1Kv（測定重金屬（Cd,Pb,Hg,Br,Cr等）時，可以用50ｋV。但測定輕元素時，15kV是***有效的。另在工作曲線法中，隨時可設(shè)定***佳電壓。）

電流 1-1000μA，每步1μA

穩(wěn)定度 ±0.01%（外電壓波動±10%）

保護電路 過電壓， 過電流， 過功率，

3、一次X射線濾波片 5種自動交換

特點說明：不同元素應(yīng)該采用不同的濾光片進行分析，這樣才能有效降低背景，得到高準確度的測量數(shù)據(jù)。EDX-720進行元素分析時可以自動判斷元素和更換相應(yīng)的濾光片，無須手動更換

檢測器部分：

1、檢測器

類型 Si（Li）檢測器

液氮 只有在分析時添加

液氮消耗 少于1L/天

檢測面積 10mm2

分析元素 Na-U

分辨率 ：小于150電子伏特

特點說明：采用液氮制冷方式的檢測器具有高分辨率，可以避免元素譜線之間的干擾，從而保證高準確度的分析。在性能、實績、穩(wěn)定性上，Si（Li）半導體是對性的實績（島津檢測器是自己生產(chǎn)，在萬一發(fā)生故障也迅速對應(yīng)）。 掘場按振動檢測器的性能下降。 精工較差的Si-PIN半導體分辨率為220eV、在分析樹脂中的Cd、Pb時，容易受到Br和Sb等共存元素的干擾、并有時不能檢出，還有因為是低強度，在測試金屬中有害元素的感度也差。

2、計數(shù)單元

放大器

擬合時間 10μ秒

增益變化 高/低

多道分析器（MCA）

變頻型 順序比較ADC

道數(shù) 2048道

大計數(shù)率 232-1/道

樣品室與測定室部分：

1、樣品室

島津X射線熒光光譜分析儀EDX-700HS，二手熒光光譜分析儀蓋子 自動開啟/關(guān)閉（帶安全系統(tǒng)）

每次測定時蓋子自動上升與下降。

***大樣品尺寸 300mm 直徑 x 150mm高

島津X射線熒光光譜分析儀EDX-700HS，二手熒光光譜分析儀（特點說明：樣品室自動開啟，樣品蓋子的結(jié)構(gòu)設(shè)計有效避免X光的泄露，滿足日本及中國X射線的泄露控制標準。超大型的樣品室可以容納大型的部件直接放入測試，無須切割）

2、測定室

X射線照射面積 下照射

光欄直徑 1、3、5、10mm可選

特點說明：不同的分析面積采用不同尺寸的光欄，可以保證各種大小樣品的高精度測試。

測定室開孔 13mm

3、測定氣氛：大氣

4、CCD觀察定位系統(tǒng)

配備CCD數(shù)碼觀察系統(tǒng)，可以準確定位分析區(qū)域。