北京英萊克科技（）提供以下系列的美國PIKE紅外光譜儀標樣。包括用于紅外光譜儀波數(shù)校準的聚苯乙烯薄膜。厚度為1.5 密耳（Mil）和 55微米的聚苯乙烯薄膜，通常用
于校準紅外光譜波數(shù)精度， 我們還提供 NIST 可溯源的聚苯乙烯薄膜標樣，他們包括參比物質(zhì)、這些參比物質(zhì)的校準結果和相關的溯源文件。3.0 mil 的聚苯乙烯薄膜是用于校準 FTIR 光譜儀零點或線性度的

                                                                   美國PIKE紅外光譜儀校準標樣（中紅外）

 U R E S O F R E F E R E N C E S TA N D A R

    北京英萊克科技（）提供以下系列的美國PIKE紅外光譜儀標樣。包括用于紅外光譜儀波數(shù)校準的聚苯乙烯薄膜。厚度為1.5 密耳（Mil）和 55微米的聚苯乙烯薄膜，通常用

于校準紅外光譜波數(shù)精度， 我們還提供 NIST 可溯源的聚苯乙烯薄膜標樣，他們包括參比物質(zhì)、這些參比物質(zhì)的校準結果和相關的溯源文件。3.0 mil 的聚苯乙烯薄膜是用于校準 FTIR 光譜儀零點或線性度的

 • ATR 光譜不同于透射光譜，我們不僅提供ATR 標樣，還提供的校準步驟。

 • 鏡反射標樣適用于可變角、10度、30度、45度鏡反射附件。

 •鏡反射標準，適用于校準反射測量系統(tǒng)（Specular Reflectance Standard - for

calibrating reflectance measurement system

    Comparison of measured and calculated reflectance for the Specular

Reflectance Standard using the PIKE 10Spec accessory                                                                                                                                                                                                  

   北京英萊克科技：（直線）（總機）

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