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具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)

公司名稱(chēng) 巨力科技有限公司
品牌
型號(hào)
所在地
廠商性質(zhì) 經(jīng)銷(xiāo)商
更新時(shí)間 2016/1/2 12:00:00
訪問(wèn)次數(shù) 1213

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促銷(xiāo)詳細(xì)：

2020年01月08日至 2020年02月08日

特價(jià)促銷(xiāo)

模內(nèi)澆口分離自動(dòng)化，降低對(duì)人的依賴(lài)度；傳統(tǒng)的塑膠模具開(kāi)模后產(chǎn)品與澆口相連，需二道工序進(jìn)行人工剪切分離，模內(nèi)熱切模具將澆口分離提前至開(kāi)模前，消除后續(xù)工序，有利于生產(chǎn)自動(dòng)化，降低對(duì)人的依賴(lài)。

產(chǎn)品簡(jiǎn)介

我也要發(fā)布產(chǎn)品信息

世界*原子力顯微鏡（掃描探針顯微鏡），客戶已遍及國(guó)內(nèi)眾多重點(diǎn)高校和科研機(jī)構(gòu)，依的品質(zhì)和優(yōu)秀的技術(shù)服務(wù)，*受到客戶的好評(píng)！產(chǎn)品：多功能掃描探針顯微鏡、可控環(huán)境型掃描探針顯微鏡等；

詳細(xì)信息在線詢價(jià)

技術(shù)參數(shù)
標(biāo)準(zhǔn)型掃描器 XY：20μm，Z：2μm
分辨能力 XY：0.2nm, Z： 0.01nm（可實(shí)現(xiàn)原子級(jí)分辨）

主要特點(diǎn)
測(cè)試功能：

＊形貌測(cè)量：接觸式AFM、輕敲式Tapping、掃描隧道STM；
＊微摩擦力研究：FFM功能、切向調(diào)制摩擦力LM-FFM功能，摩擦力曲線；
＊微觀磁力研究：高分辨磁力顯微鏡MFM功能；
＊表面納米加工：Vector Scan和Raster Lithography功能，實(shí)現(xiàn)探針定向刻蝕和制作復(fù)雜圖像；
＊高分子材料分析：Phase模式、力曲線、粘彈性模式、微區(qū)粘性模式；
＊電性學(xué)能分析：表面電位勢(shì)測(cè)量模式、靜電力模式、壓電響應(yīng)力模式、掃描電容成像模式、同時(shí)電流測(cè)量模式、電流隧道譜模式；
＊生物領(lǐng)域：液體中AFM/Tapping模式、力曲線、支持封閉液體樣品池；
＊電化學(xué)領(lǐng)域：EC-AFM/STM功能。

儀器介紹
世界*原子力顯微鏡（掃描探針顯微鏡），客戶已遍及國(guó)內(nèi)眾多重點(diǎn)高校和科研機(jī)構(gòu)，依的品質(zhì)和優(yōu)秀的技術(shù)服務(wù)，*受到客戶的好評(píng)！

其他相關(guān)產(chǎn)品：

1.多功能掃描探針顯微鏡：用于測(cè)量各種材料表面高精度成像外，還能表征多種材料如無(wú)機(jī)物非金屬材料、金屬材料、高分子材料、復(fù)合材料和生物材料的多種物性，包括磁力、摩擦力、粘彈性、表面電位勢(shì)、靜電力、壓電響應(yīng)、電流像、電流隧道譜、電容等等，還能進(jìn)行納米尺度的加工及力學(xué)性質(zhì)的表征，能在大氣、液體及電化學(xué)條件下測(cè)量。

2.新型多功能可控環(huán)境掃描探針顯微鏡：目前商用的*一款真正專(zhuān)業(yè)級(jí)高真空環(huán)境控制型SPM，不但具備多功能掃描探針顯微鏡系統(tǒng)所有功能；而且掃描在封閉的Chamber中進(jìn)行，可對(duì)測(cè)量的環(huán)境（高真空、高溫、低溫、液體、電化學(xué)等）進(jìn)行控制；可連續(xù)變溫，低溫達(dá)-120℃，高溫可達(dá)800度；

3.大尺寸樣品掃描探針顯微鏡：大尺寸φ200mm樣品的微區(qū)（微米至納米量級(jí)）形貌及其物理特性進(jìn)行觀測(cè)分析。適用于測(cè)量各種光盤(pán)（DVD，CD，HD等）、磁盤(pán)、半導(dǎo)體、微電子及其他大尺寸的樣品。

4.低溫掃描霍爾顯微鏡（LT-SHPM，低溫霍爾顯微鏡）：該系統(tǒng)可與多種低溫杜瓦聯(lián)用，實(shí)現(xiàn)低溫1K~300K溫度范圍內(nèi)樣品表面微區(qū)磁場(chǎng)分布定量化圖像化分析，樣品尺寸達(dá)15＊15＊5mm，微區(qū)磁化性能B-H曲線和M-H曲線測(cè)量，實(shí)時(shí)測(cè)量動(dòng)態(tài)磁化現(xiàn)象，支持?jǐn)U展STM、AFM、MFM、EFM和SNOM等功能，磁場(chǎng)高達(dá)16T；

5.多功能PPMS掃描探針顯微鏡（PPMS-SPM）：該系統(tǒng)可與現(xiàn)有的幾乎所有的PPMS系統(tǒng)（物性測(cè)量系統(tǒng)，如 Quantum Design,Inc. ）聯(lián)用，實(shí)現(xiàn)AFM、MFM、SHPM、STM、EFM和SNOM等測(cè)量功能，并且可在溫度范圍2K~300K和磁場(chǎng)高達(dá)16T條件下，高分辨成像；　

6.mK 超低溫掃描探針顯微鏡（mK-SPM，超低溫原子力顯微鏡）：該系統(tǒng)可與牛津儀器的Dilution低溫杜瓦和He3系統(tǒng)，或者其他mK系統(tǒng)聯(lián)用，實(shí)現(xiàn)mK~300K溫度范圍高分辨樣品表面成像；主要測(cè)量功能STM、接觸式AFM、非接觸式AFM、MFM、Quartz/Akiyama AFM、EFM和SNOM等，磁場(chǎng)高達(dá)16T；