——高度集成，廣泛應用于材料科學，具有單分子探測能力

PL1光致發(fā)光時間分辨共焦顯微鏡

——高度集成，廣泛應用于材料科學，具有單分子探測能力

特點

-300nm-1050nm范圍內(nèi)具有單分子級檢測能力。

-寬范圍時間壽命測量能力：標準100ps-100ms，頻域技術(shù)可低至10皮秒

-熒光強度和壽命成像可同時獲得（空間分辨率可達衍射極限低至250nm）

-光學切面3D掃描，分辨率低至50nm

-掃描zui大樣品區(qū)域可至100×100mm

-集成軟件（64bit），具有系統(tǒng)控制，數(shù)據(jù)采集和分析能力

-集成設(shè)計，具有靈活定制化能力，滿足客戶不同研究領(lǐng)域的靈活配置，提升研究效率

應用

-材料科學研究

-半導體材料表征

-太陽能電池材料

-晶體材料

-其他光致發(fā)光材料

PL1創(chuàng)新性設(shè)計

PL1是一種操作簡便高度集成的激光共焦掃描熒光成像設(shè)備，能zui大限度的為客戶提供高效穩(wěn)定的使用時間，便捷的測試能力。PL1提供高靈敏度檢測能力，是一種理想的材料科學單分子測量儀器，易于操作。

常規(guī)測量能力

• 強度和熒光壽命成像

-光致發(fā)光共焦強度成像

-光致發(fā)光共焦壽命成像，XYZ和T多維度，具有掃描和單點模式

• FFS熒光變動光譜

-熒光相關(guān)光譜（FCS)

-光子計數(shù)直方圖（PCH）

-熒光壽命相關(guān)光譜（FLCS）

• 單分子成像

-Burst分析

-單分子FRET熒光共振能量轉(zhuǎn)移分析

應用案例

量子點

Figure 1Phasor plots相量圖可獨立區(qū)分基體涂層量子點熒光壽命種類，直接從原始數(shù)據(jù)獲得。激發(fā)波長470nm，發(fā)射波長499-632nm（熒光），475/35nm（反射），掃描區(qū)域17.5μm×17.5μm。（Courtesy of Wenjie Liu and Dr.Yaowu Hu;Purdue University;West Lafayette，IN;USA)

鈣鈦礦表征

Figure 2鈣鈦礦高空間分辨率共焦熒光壽命成像及光致發(fā)光（熒光）強度。ISS VistaVisiontion提供zui小化數(shù)據(jù)擬合算法和相矢量圖壽命分析；如，使用多圖相圖常規(guī)分析方法，不同鈣鈦礦樣品的熒光壽命可以通過鑒定原始數(shù)據(jù)相矢量圖立即獲?。o需數(shù)據(jù)擬合），使得熒光壽命分析更簡便和準確。激發(fā)波長488nm；發(fā)射光譜通過635nm長通濾波器；掃描區(qū)域：20μm×20μm。

納米粒子熒光上轉(zhuǎn)換

Figure 3上轉(zhuǎn)換納米粒子共焦壽命成像，包含高空間分辨率光致發(fā)光強度和壽命。激發(fā)波長980nm，發(fā)射波長509-552nm。掃描區(qū)域20μm×20μm