發(fā)射光譜測量系統(tǒng)不僅可測量光源或其他發(fā)射光譜分布，而且可在此基礎(chǔ)上得到積分輻射通量、光通量、色坐標(biāo)等。

發(fā)射光譜測量系統(tǒng)

發(fā)光體，如白熾燈、熒光燈、LED等輻射光譜及發(fā)光特性的測試，對研究其特性有很大幫助。系統(tǒng)不僅可測量光源或其他發(fā)射光譜分布，而且可在此基礎(chǔ)上得到積分輻射通量、光通量、色坐標(biāo)等。

針對不同輻射光源的特性，可靈活選擇測試系統(tǒng)，如：寬帶光源和LED通常分辨率要求不高，建議使用SGM100或短焦距“譜王”、“影像譜王”系列光譜儀/單色儀；激光器、放電燈、等離子體、原子發(fā)射光譜等要求分辨率高，建議使用長焦距“譜王”、“影像譜王”系列光譜儀/單色儀；寬波長范圍（UV～I(xiàn)R），建議采用雙出口單色儀接兩個探測器；測試寬光譜范圍的發(fā)光體，需要采用SD濾光片輪消多級光譜。?

系統(tǒng)組成：分光系統(tǒng)＋檢測系統(tǒng)＋數(shù)據(jù)采集及處理系統(tǒng)＋軟件系統(tǒng)＋計算機(jī)系統(tǒng)

OmniES-掃描型發(fā)射光譜測量系統(tǒng)

OmniES-攝譜型發(fā)射光譜測量系統(tǒng)