Anton Paar原子力顯微鏡，是測量表面形貌或表面微小作用力準確有效的技術。位于懸臂梁末端的探針與試樣表面接觸，并對試樣表面進行數(shù)字化掃描。通過這種技術，我們可以得到試樣表面的超高分辨率三維形貌。這項技術特別適用于殘留劃痕、壓痕以及其他納米尺度表面特征形貌的高分辨率成像。

Anton Paar原子力顯微鏡
 

　　儀器簡介：
 

　　原子力顯微鏡(AFM)或掃描探針(SPM)技術，是測量表面形貌或表面微小作用力準確有效的技術。位于懸臂梁末端的探針與試樣表面接觸，并對試樣表面進行數(shù)字化掃描。通過這種技術，我們可以得到試樣表面的超高分辨率三維形貌。這項技術特別適用于殘留劃痕、壓痕以及其他納米尺度表面特征形貌的高分辨率成像。
 

　　瑞士CSM儀器公司三十年來致力于為材料、物理、機械工作者提供先進、精準、全面的材料機械性質測試儀器、分析咨詢以及測試服務。我們的主要產(chǎn)品包括：
 

　　測量材料硬度和彈性模量的納米級、微米級儀器化壓入測試儀(納米壓痕儀, 顯微壓痕儀)；
 

　　界定膜基結合強度、薄膜抗劃擦能力的納米級、微米級、大載荷劃痕測試儀 (Scratch tester) ；
 

　　包括真空、高溫以及線性往復運動等選項的摩擦磨損測試儀、納米摩擦儀 (摩擦磨損試驗機 ；
 

　　簡便易用的膜厚測試儀；
 

　　用于三維成像表征材料表面形貌的原子力顯微鏡 (AFM) 和白光共聚焦顯微鏡 (Confocal Microscope) 。
 

　　Anton Paar原子力顯微鏡主要特點：
 

　　特點
 

　　光學顯微鏡與原子力顯微鏡的結合使表面量化分析成為可能
 

　　光學顯微鏡可將表面細節(jié)放大到具有亞納米尺寸分辨率的圖像
 

　　微米與納米結構的分析
 

　　臨界尺寸(CD)的測量
 

　　對腐蝕結構與粗糙度的測量分析
 

　　薄膜表面輪廓分析
 

　　弱光學對比度表面測量
 

　　生物材料及其他材料表面研究領域的應用
 

　　選件
 

　　非接觸掃描模式
 

　　摩擦力掃描模式
 

　　磁性力掃描模式
 

　　脈沖力掃描模式
 

　　靜電力掃描模式
 

　　熱掃描模式
 

　　電導顯微鏡
 

　　液體介質測量模塊