iCAP™ 7200 ICP-OES 等離子體光譜儀
描述
電感耦合等離子體 （ICP） 光學(xué)發(fā)射光譜法 （OES） 是對(duì)液體和固體樣品中的痕量元素進(jìn)行分析和定量的*的強(qiáng)大技術(shù)。

產(chǎn)品詳情

iCAP™ 7200 ICP-OES 等離子體光譜儀

描述

iCAP™ 7200 ICP-OES 等離子體光譜儀電感耦合等離子體 (ICP) 光學(xué)發(fā)射光譜法 (OES) 是對(duì)液體和固體樣品中的痕量元素進(jìn)行分析和定量的*的強(qiáng)大技術(shù)。

進(jìn)樣系統(tǒng)：

iCAP™ 7200 ICP-OES 等離子體光譜儀該儀器出廠時(shí)已設(shè)定分析就緒的進(jìn)樣參數(shù)，所以用戶不再需要優(yōu)化泵速度、等離子體射頻功率和氣體流速。

• 一個(gè) 3 通道、12 轉(zhuǎn)子的蠕動(dòng)泵，帶有*的排液監(jiān)測(cè)傳感器，提供順暢、低噪音的信號(hào)和安全的操作
• 插入式炬管座和接頭方便安裝/拆卸
• 組合式進(jìn)樣系統(tǒng)易于重組和維護(hù)
• 增強(qiáng)基質(zhì)耐受 (EMT)炬管設(shè)計(jì)改善了高基質(zhì)樣品的操作
• 光學(xué)排液監(jiān)測(cè)傳感器可監(jiān)測(cè)來自霧化室的排液情況，在發(fā)現(xiàn)不正常排液的情況下可自動(dòng)熄滅等離子體炬焰，從而節(jié)約樣品、氣體和電力
• 提供一系列的 CETAC 自動(dòng)進(jìn)樣器，從而能夠優(yōu)化 iCAP 7200 ICP-OES 進(jìn)行自動(dòng)化、無人照看的分析

等離子體和射頻發(fā)生器：

• iCAP™ 7200 ICP-OES 等離子體光譜儀雙向（垂直和水平）等離子體觀測(cè)

光學(xué)系統(tǒng)：

• 光學(xué)系統(tǒng)的低吹掃氣體流量有助于減少運(yùn)行費(fèi)用
• 高光傳輸效率的光學(xué)設(shè)計(jì)可提供優(yōu)異的靈敏度
• 高分辨率中階梯光譜儀通過減少光譜重疊提高檢測(cè)準(zhǔn)確度
• 具有熱切斷設(shè)計(jì)的恒溫控制多色器增強(qiáng)了長(zhǎng)期穩(wěn)定性，可在不再進(jìn)行校準(zhǔn)的情況下延長(zhǎng)分析運(yùn)行

檢測(cè)器：

• 電荷注入裝置 (CID) 檢測(cè)器： CID-86
• 可以在 175 到 847 nm 范圍內(nèi)自由連續(xù)選擇波長(zhǎng)
• 具備抗鄰近像素暈光效應(yīng)的功能，減少了復(fù)雜樣品基質(zhì)引起的假陽性結(jié)果
• 非破壞性讀取和隨機(jī)存取的集成改善了信背比和檢測(cè)限

軟件：

• iCAP™ 7200 ICP-OES 等離子體光譜儀直觀的 Qtegra™ Inligent Scientific Data Solution™ 平臺(tái)軟件將預(yù)加載方法模板作為標(biāo)準(zhǔn)設(shè)置，能夠進(jìn)行"開箱即用"的操作