TOSHIBA微焦點(diǎn)Ｘ光探傷儀器是配備有的Ｘ射線部件，可獲得鮮明圖像的微焦點(diǎn)Ｘ射線檢查裝置。另外，TOSMICRON-S系列通過從基本機(jī)構(gòu)到軟件的通用化，提高了設(shè)備的功能性和信賴性

TOSHIBA微焦點(diǎn)Ｘ射線透視檢查裝置TOSMICRON-S系

TOSHIBA微焦點(diǎn)Ｘ光探傷儀器是配備有的Ｘ射線部件，可獲得鮮明圖像的微焦點(diǎn)Ｘ射線檢查裝置。另外，TOSMICRON-S系列通過從基本機(jī)構(gòu)到軟件的通用化，提高了設(shè)備的功能性和信賴性。  

TOSHIBA微焦點(diǎn)Ｘ光探傷儀器的共同特性 

●易于操作、可全部通過鼠標(biāo)操作 

 ●采用高精度·高速載物臺(具有線性計(jì)測功能)，通過多種載物臺自動移動功能、可以大幅提高檢查效率。  

●具有同步跟蹤功能，即使傾斜，放大倍數(shù)和圖像亮度均不會改變。 

 ●可以從FD類型(裝配平板)和IN類型(裝配I.I.)進(jìn)行選擇。

 TOSMICRON-S5000 系列 (高性能傾斜型)  

TOSMICRON-S3000, S4000 系列 (通用垂直型)