NPFLEX是Bruker公司于2010年推出的一款可針對(duì)各種復(fù)雜形狀樣品進(jìn)行表面測(cè)量的儀器。光學(xué)輪廓儀是一種非接觸式光學(xué)輪廓儀，它使用兩種技術(shù)來(lái)測(cè)量表面高度。一種是相位漂移干涉計(jì)（PSI）模式，它可以測(cè)量光滑表面；另一種是垂直掃描干涉計(jì)（VSI）模式，它可以測(cè)量粗糙表面和臺(tái)階。

由于航空鑄造零件上，具有很多過(guò)渡曲面，采用探針式測(cè)量方法有很多的局限性。一是某些區(qū)域探針很難進(jìn)入里面進(jìn)行測(cè)量；二是探針式測(cè)量方法的精度達(dá)不到測(cè)量的要求。而采用白光干涉的測(cè)量方法只要光能入射并反射回來(lái)就可進(jìn)行測(cè)量，不管是對(duì)曲面還是直面均可進(jìn)行快速、高精度、高重復(fù)性測(cè)量