當前位置:儀器網(wǎng) > 產(chǎn)品中心 > 物性測試儀器及設備>測厚儀>白光干涉測厚儀> 白光干涉儀
返回產(chǎn)品中心>激光測振儀(進口)位移分辨率高達0.008納米。測量物體振動的速度,加速度,位移,運動軌跡,頻率.全場激光測振實現(xiàn)整面物體的XY軸的振動測量可以彩色動畫輸出。三維激光測振可以實現(xiàn)三軸振動測量。多點激光測振可以同時實現(xiàn)16個振動點振動并可以測量物體瞬間振動和實時的振動模擬
白光干涉儀:非接觸式三維表面形狀測量儀可以沿垂直軸方向?qū)Ρ粶y物體進行掃描,它采用光學干涉技術(shù),精密測量樣品的表面形狀分布。
與共聚焦顯微鏡、調(diào)焦顯微鏡等三維表面測量技術(shù)相比,該表面形狀測量儀具有更高的垂直分辨率。
Sunny VSI三維表面形狀測量儀可安裝在配套的三維數(shù)控平臺上,實現(xiàn)橫向掃描。
系統(tǒng)構(gòu)成
1)光學照明系統(tǒng)
2)光學成像系統(tǒng)
3)垂直掃描控制系統(tǒng):
4)信號處理系統(tǒng):
5)應用軟件:
6)顯示器
應用領(lǐng)域
LED晶片基板測量
表面粗糙度/平整度分析
硬盤懸臂焊接點的直徑測量
太陽能電池紋理缺陷檢測
參數(shù) 白光干涉儀型 號 Sunny VSI
垂直測量分辨率 0.05um
橫向測量分辨率 2.767um/plxels
圖像分辨率 768*576 plxels
掃描體積 2.125mm*1.593mm*100um
均方根值重復精度 <0.5nm
白光干涉儀型 號 Sunny VSI | |
垂直測量分辨率 | 0.05um |
橫向測量分辨率 | 2.767um/plxels |
圖像分辨率 | 768*576 plxels |
掃描體積 | 2.125mm*1.593mm*100um |
均方根值重復精度 | <0.5nm |
*您想獲取產(chǎn)品的資料:
個人信息: