Metris XT H 450 LC建立了渦輪葉片測量和中小鑄件NDT檢測的新參考標準。這臺功能強大的設備的核，部件是一個450kV微焦點源，可提供超高分辨率和超高精度。彎曲的線性陣列探測器通過消除散射現(xiàn)象，優(yōu)化了X射線圖像的采集，散射現(xiàn)象通常會影響葉片和其它金屬件的二維射線照片。

　　450KV微焦點工業(yè)CT XTH450 LC

　　XT H 450 LC，用于葉片和鑄件的CT檢測，帶有高功率450kV微焦點X射線源　Metris XT H 450 LC建立了渦輪葉片測量和中小鑄件NDT檢測的新參考標準。這臺功能強大的設備的核，部件是一個450kV微焦點源，可提供超高分辨率和超高精度。

       彎曲的線性陣列探測器通過消除散射現(xiàn)象，優(yōu)化了X射線圖像的采集，散射現(xiàn)象通常會影響葉片和其它金屬件的二維射線照片。該探測器是一臺非常靈活的設備，可處理小金屬件到大金屬件，例如葉片、鑄件等

　　XTH450 LC的優(yōu)點 ：可靈活地整合在單個系統(tǒng)中：X射線可用于快速目視檢測，CT可用于深入分析，快速數(shù)據(jù)采集和高質量圖像，高分辨率數(shù)字成像和處理，嵌入式安全裝置可使操作人員安全地操作該系統(tǒng)，無需任何特殊的預防措施或安全警示標志。

　　XTH450 LC的特性：*的450kV微焦點源，測量體積可達600mm直徑和600mm高度，高效線性探測器，>80%量子檢測有效，五軸*可編程托盤式操縱器，帶精密滾珠絲桿和線性滑軌，特別適用于渦輪葉片的自動通過/不通過檢測。

　　應用： 渦輪葉片內部結構的詳細分析，葉片的自動通過/不通過檢測，需要微米精度的高密度部件檢測（例如金屬件、鑄件）

         產(chǎn)品的規(guī)格參數(shù)詳見下表：

　　溫馨提示：如果您對上述的介紹有任何的疑問或是想要了解更多關于尼康工業(yè)CT的更多常識，我們歡迎您的。