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RTS-2/RTS-2A型四探針測試儀(便攜式)

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RTS-2/RTS-2A型四探針測試儀(便攜式) 是運用四探針測量原理的多用途綜合測量設(shè)備。該儀器按照單晶硅物理測試方法國家標準并參考美國 A.S.T.M 標準而設(shè)計的,于測量硅晶塊、晶片電阻率及擴散層、外延層、ITO導電箔膜、導電橡膠等材料方塊電阻的小型儀器

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產(chǎn)品名稱:



 

量范圍寬、精度高、穩(wěn)定性好、結(jié)構(gòu)緊湊、易操作的便攜式設(shè)計
體積僅為:125mm(寬)*145mm(高)*245mm(深)
 
 是運用四探針測量原理的多用途綜合測量設(shè)備。該儀器按照單晶硅物理測試方法國家標準并參考美國 A.S.T.M 標準而設(shè)計的,于測量硅晶塊、晶片電阻率及擴散層、外延層、ITO導電箔膜、導電橡膠等材料方塊電阻的小型儀器。
    儀器采用了電子技術(shù)進行設(shè)計、裝配。具有功能選擇直觀、測量取數(shù)快、精度高、測量范圍寬、穩(wěn)定性好、結(jié)構(gòu)緊湊、易操作等特點。如有需要可加配測試臺使用。
    本儀器廣泛應(yīng)用于太陽能單晶(多晶)生產(chǎn)廠家為硅材料的分選測試,半導體材料廠、半導體器件廠、科研單位、高等院校對半導體材料的電阻性能測試。
 
 
四探針測試儀前面板
帶把手四探針探頭
技 術(shù) 指 標
便攜式四探針測試儀按測量范圍可選配RTS-2型或RTS-2A型,區(qū)別:測量范圍不一樣。
 
 RTS-2測量范圍
 電阻率:0.01~1999.9Ω.cm;  
 方塊電阻:0.1~19999Ω/□;
 
 RTS-2A測量范圍
 電阻率:0.001~199.99Ω.cm;  
 方塊電阻:0.01~1999.9Ω/□;
 
RTS-2恒流源
 電流量程分為100μA、1mA兩檔,各檔電流連續(xù)可調(diào)
RTS-2A恒流源
 電流量程分為1mA、10mA兩檔,各檔電流連續(xù)可調(diào)
數(shù)字電壓表
 量程及表示形式:000.00~199.99mV;    
 分辨力:10μV;
 輸入阻抗:>1000MΩ;
 精度:±0.1% ;
 顯示:四位半紅色發(fā)光管數(shù)字顯示;極性、超量程自動顯示;
四探針探頭基本指標
 間距:1±0.01mm;
 針間絕緣電阻:≥1000MΩ;
 機械游移率:≤0.3%;
 探針:碳化鎢或高速鋼Ф0.5mm;
 探針壓力:5~16 牛頓(總力);
四探針探頭應(yīng)用參數(shù)
 (見探頭附帶的合格證)
模擬電阻測量相對誤差
( 按JJG508-87進行)
 1Ω、10Ω、100Ω小于等于0.3%±1字
整機測量zui大相對誤差
(用硅標樣片:0.01-180Ω.cm測試)≤±5%
整機測量標準不確定度
 ≤5%
外型尺寸
 125mm(寬)*145mm(高)*245mm(深)
標準使用環(huán)境
 溫度:23±2℃;
 相對濕度:≤65%;
 無高頻干擾;
 無強光直射;


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