1.快速定量測量透明材料和薄膜2維平面內(nèi)的
2.相位差、雙折射和內(nèi)部應(yīng)力應(yīng)變分布
3.超寬范圍雙折射測試儀

日本Photonic-lattice公司成立于1996年，以日本東北大學(xué)的光子晶體的研究技術(shù)為核心，成立的合資公司，尤其是其光子晶體制造技術(shù)世界，并由此開發(fā)出的測量儀器。

主要產(chǎn)品分四部分：

• n 光子晶體光學(xué)元件；

• 雙折射和相位差評價(jià)系統(tǒng)；

• 膜厚測試儀；

• 偏振成像相機(jī)。

『相位差』『雙折射』『內(nèi)部應(yīng)力』測量裝置 WPA/PA系列

• 快速定量測量透明材料和薄膜2維平面內(nèi)的

• 相位差、雙折射和內(nèi)部應(yīng)力應(yīng)變分布

PA/WPA系統(tǒng)特點(diǎn)：

• 操作簡單/快速測定：*的偏振成像傳感器進(jìn)行簡單的和快速的操作即可測量相位差的分布

• 2D數(shù)據(jù)的多方面分析功能：二維數(shù)據(jù)的強(qiáng)大分析功能，能夠直觀解釋被測樣品的特性。

• 大相位差測試能力（WPA系列）：通過對三組不同波長的測量數(shù)據(jù)進(jìn)行計(jì)算，WPA系統(tǒng)可以測量出幾千nm范圍內(nèi)的相位差。

主要應(yīng)用

·         光學(xué)零件（鏡片、）

·         智能手機(jī)玻璃基板

·         有機(jī)材料（透明晶圓）

參數(shù)指標(biāo)