接觸式三維形貌儀NanoMap-500LS利用掃描探針顯微鏡光杠桿位移檢測技術和超平整參照面-大型樣品臺掃描技術，并與壓電陶瓷（PZT）掃描*結合，可以再不喪失精度的情況下，即得到超大樣品整體三維輪廓圖，又呈現局部三維形貌像。其中樣品臺掃描參考平面使用超高平坦度光學拋光平臺，有效解決了以往樣品臺掃面，由于絲杠公差引起的測試結果有亞微米量級的誤差。

利用掃描探針顯微鏡光杠桿位移檢測技術和超平整參照面-大型樣品臺掃描技術，并與壓電陶瓷（PZT）掃描*結合，可以再不喪失精度的情況下，即得到超大樣品整體三維輪廓圖，又呈現局部三維形貌像。其中樣品臺掃描參考平面使用超高平坦度光學拋光平臺，有效解決了以往樣品臺掃面，由于絲杠公差引起的測試結果有亞微米量級的誤差。

主要應用在金屬材料、生物材料、聚合物材料、陶瓷材料等各種材料表面的薄膜厚度，臺階高度，二維粗糙度（Ra,Rq,Rmax...），三維粗糙度（Sa,Sq,Smax），劃痕截面面積，劃痕體積，磨損面積，磨損體積，磨損深度，薄膜應力（曲定量率半徑法）等定量測量。擺脫了以往只能得到二維信息，或三維信息過于粗糙的現狀。將輪廓儀帶入了另一個高精度測量的新時代。

三維輪廓儀熱噪聲是同類產品zui低的。垂直分辨率可達0.1 nm 可測跨學科、跨領域的各種樣品表面，包括透明、金屬材料，半透明、高漫反射，低反射率、拋光、粗糙材料（金屬、玻璃、木頭、合成材料、光學材料、塑料、涂層、涂料、漆、紙、皮膚、頭發(fā)、牙齒…）；

：aep Technology

：+86-

+86-

+86-何

公司：