可以評估因老化腐蝕現(xiàn)象引起的壽命及絕緣電阻劣化問題的設(shè)備？
產(chǎn)品介紹：
面對材料越來越小型輕量及高密度封裝，因結(jié)露、吸濕、電場環(huán)境等因素造成的絕緣不良現(xiàn)象暨離子遷移現(xiàn)象日益突出，長期電化學腐蝕平臺，可高精度連續(xù)試驗，高效簡便評估因老化腐蝕現(xiàn)象引起的壽命及絕緣電阻劣化相關(guān)問題。
試驗系統(tǒng)能夠模擬各類工業(yè)制品、零部件以及原材料的實際生產(chǎn)、使用、儲存和運輸過程中的高壓伴隨著低溫、高溫、潮濕、干燥、高低溫濕熱交變、快速溫度變化、溫度循環(huán)等環(huán)境因素的影響，以測試其功能、性能及壽命的完整性和可靠性。
設(shè)備參數(shù)：
7
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